前言

AEC-Q101标准包含了分立半导体元件（如晶体管，二极管等）最低应力试验要求的定义和试验条件，试验项目主要参考了军用级，工业级和车用级的标准，其中Group A加速环境应力试验的间隙工作寿命（IOL）就参考了军用级标准MIL-STD-750半导半导体器件的标准环境测试方法Method 1037进行。

01试验目的

确定半导体器件在特定条件下是否符合规定的周期数，在器件反复开启和关闭的条件下，它加速了器件的芯片和安装面之间的所有键合和接口的应力，因此较适合用于管壳安装类型（例如螺柱、法兰和圆盘）器件。

02试验条件

在初始预热周期后处于稳定状态时，一个周期应包括一个“开启”阶段，即当器件突然而非逐渐接通电源直到∆Tj最低达到100℃（不超过器件的最大额定结温），紧接着为一个“关闭”阶段，即当电源突然断开时，通过冷却管壳达到变化的∆Tj温度，辅助（强制）冷却只允许在关闭阶段进行。如∆Tj不能达到100℃，可进行功率温度循环（PTC）试验代替。

所有器件都应进行标准要求的时间或循环次数，∆Tj ≥ 100°C时进行1000小时或15000个循环，∆Tj ≥ 125°C时进行500小时或7500个循环，最终测试时间或循环数依据下列公式进行计算：

示例1：一个能够开2分钟/关4分钟的封装，在△Tj≥100℃时需要10000次循环[60000/(2+4)]，或在△Tj≥125℃时需要5000次循环。

示例2：一个能够开1分钟/关1分钟的封装，在△Tj≥100℃时需要15000次循环，或在△Tj≥125℃时需要7500次循环。

X = 器件从环境温度达到规定的结温△Tj 所需的最短时间。

Y =  器件从规定的结温△Tj 冷却到环境温度所需的最短时间。

测试板上的仪器、零件安装和散热方法将影响每个封装的x和y。

03电性能参数选择

间隙工作寿命（IOL）试验前后需检测电性能参数，以下是最小检测的参数要求，所有器件性能参数必须符合用户零件规范的要求。

晶体管

二极管

变容管

  04失效判定

试验后电性能参数不能保持在初始读数的±20%以内为失效

对于RDS（ON）最大≤2.5 mOhm的器件，RDS（ON）的变化允许值为≤0.5 mOhm。

允许的泄漏电流不超过测试前初始值的5倍，对MOSFET而言，对于0h测试值<10nA(IGSS和IDSS)，测试后为50nA。

器件外观不可以出现任何物理损坏。