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嘉峪检测网 2025-09-21 17:24
面对一个全新的产品,如何预见其可能的失效模式?如何主动“制造”故障以验证设计的鲁棒性?这不仅是工程挑战,更是保障产品成功上市的核心环节。本文将系统阐述故障激发试验的理念、方法与实施路径,为新品可靠性保驾护航。
一、故障激发试验:为何主动“制造”故障至关重要?
故障激发试验(Failure Stimulation Testing)是一种主动施加应力以诱发潜在故障的可靠性验证方法。其核心在于超越常规使用条件,在加速或强化环境中暴露产品薄弱点。这与被动等待故障发生的传统测试形成鲜明对比。
价值凸显:
主动暴露缺陷: 在产品设计或制造缺陷导致实际用户故障前,提前识别并解决。
加速验证: 在远短于实际使用寿命的时间内,评估产品的长期可靠性。
提升鲁棒性: 识别设计余量,驱动设计优化,提升产品在极端或意外条件下的生存能力。
降低风险: 大幅降低产品上市后因重大故障导致的召回、赔偿、声誉损失等风险。
优化成本: 早期发现问题比后期修复的成本低几个数量级。
二、评估全新产品的潜在故障模式:从零构建故障图谱
面对全新产品,没有历史数据参考,需要系统化、结构化的方法挖掘潜在故障点。
1. 理论推演:构建故障逻辑链
功能与物理分解: 将产品逐层分解为子系统、部件、元器件直至材料层面。明确每一层级的功能、输入/输出、性能指标。
失效模式与影响分析 (FMEA/FMECA): 这是最核心、最系统的方法。
功能反推法: 功能是“提供动力”,失效模式即“无法提供动力”、“动力不足”、“动力间歇性中断”、“动力过大”。
经验库借鉴: 参考类似产品、行业通用故障库(如MIL-HDBK-338B, IEC 60812)。
头脑风暴: 跨职能团队(设计、测试、制造、质量、服务)参与。
功能分析: 清晰定义每个分析对象(系统、子系统、部件、零件)的功能。
失效模式 (Failure Mode): 针对每个功能,列举所有可能的失效方式(如:开路、短路、断裂、腐蚀、性能退化、泄露、卡死、误动作等)。常用方法:
失效原因 (Failure Cause): 分析导致每种失效模式的直接原因(如:过载、过热、振动疲劳、材料缺陷、制造缺陷、软件错误、设计错误、使用不当)。
失效影响 (Failure Effect): 分析该失效模式对上级系统、最终产品功能、用户安全及环境的影响严重程度。
风险评估: 结合失效发生的可能性(O)、被探测的难度(D)和影响的严重性(S),计算风险优先数 (RPN = O * S * D),聚焦高风险项。
故障树分析 (FTA): 从顶层不希望发生的事件(如“系统宕机”、“电池起火”)出发,自上而下逐层分析导致该事件发生的所有可能原因(基本事件)及其逻辑关系(与门、或门)。帮助理解复杂系统的故障传播路径和关键薄弱点。
2. 仿真与建模:数字世界的“预测试”
多物理场仿真: 应用有限元分析 (FEA)、计算流体动力学 (CFD)、电磁仿真等工具,模拟产品在热、力(应力/应变)、电磁、流体等物理场作用下的行为。识别潜在的过热点、高应力区、共振频率、电磁干扰/兼容性问题。
电路与系统仿真: 使用 SPICE、Saber、Simulink 等工具,分析电路在过压、过流、信号异常、元器件参数漂移等情况下的行为,预测功能失效或性能下降。
可靠性预计: 基于元器件应力分析法和标准(如 MIL-HDBK-217F, Telcordia SR-332, IEC TR 62380),利用元器件失效率模型和系统可靠性框图,预估产品在特定条件下的可靠性指标(如MTBF)。虽然精度有限,但对识别高失效率单元和设定试验目标有参考价值。
3. 早期样机探索性试验:实物验证的初步探索
极限功能测试: 在规格边界和略超规格条件下测试产品基本功能(如:最低/最高输入电压、极限温度下的开机/运行)。
简单应力步进: 对单应力(如温度、电压)进行小步幅递增,观察产品响应,初步探测薄弱点。
拆解分析 (Teardown): 详细拆解竞品或类似产品,分析其设计、选材、工艺、潜在故障模式,汲取经验教训。
三、设计故障激发试验:从潜在故障到可执行方案
识别出潜在故障模式后,需要设计针对性的试验方案来激发它们。
1. 明确试验目标与范围
聚焦高风险: 基于 FMEA/FMECA 的 RPN 和 FTA 的关键基本事件,优先针对高风险、高严重度、高发生可能性的潜在故障模式。
定义清晰目标: 例如,“验证主功率 MOSFET 在最大负载瞬态冲击下的热应力余量”,“激发并定位因振动导致的 PCB 焊点疲劳失效”,“评估控制板在快速温度循环下的功能稳定性”。
确定范围: 测试对象(整机、子系统、关键部件)、需要验证的故障模式列表。
2. 选择合适的激发方法(应力类型)
核心原则: 选择的应力必须与目标故障模式的失效物理机理强相关。
常用应力类型:
盐雾: 加速金属部件腐蚀(外壳、连接器、散热器)。
混合流动气体 (MFG): 模拟工业污染环境对接触腐蚀的影响。
粉尘/沙尘: 验证密封性、活动部件(风扇、滑轨)在污染环境中的可靠性。
紫外线辐射: 评估塑料、涂层等材料的光老化。
振动(正弦/随机): 激发机械疲劳断裂、紧固件松动、连接器/线缆接触不良、微动磨损、PCB 焊点失效。复杂产品的关键应力。
机械冲击/跌落: 验证产品在运输、搬运、意外跌落中的生存能力(结构强度、关键连接)。
恒定加速度/离心: 验证在持续高过载(如航天、汽车)下的结构完整性。
过电压/浪涌: 激发绝缘击穿、元器件过压烧毁(TVS、MOV 等保护器件验证)。
过电流: 激发导线/走线/保险丝熔断、功率器件过热烧毁。
电压纹波/噪声: 评估电源稳定性、信号完整性、抗干扰能力。
静电放电 (ESD): 验证 ESD 防护设计有效性。
电源通断循环: 激发开关瞬态应力、热机械疲劳。
高温存储/工作: 加速热老化、材料退化(如电解电容干涸)、软化、热膨胀不匹配。
低温存储/工作: 材料脆化、收缩应力增大、润滑失效、启动困难。
温度循环/冲击: 激发因不同材料热膨胀系数 (CTE) 差异导致的应力(焊点疲劳、芯片开裂、涂层脱落、连接器失效)。极其常用且高效。
高温高湿: 加速电化学迁移、腐蚀、绝缘劣化(HAST 高压加速寿命试验是其强化版)。
热应力:
电应力:
机械应力:
化学/环境应力:
综合应力: 同时施加多种相关应力(如温度循环+振动),更真实地模拟实际复杂环境,激发单一应力无法暴露的交互作用故障(HALT/HASS 的核心)。
3. 设计应力剖面(强度、时间、顺序)
应力强度:
步进应力试验 (Step-Stress): 从较低应力水平开始,按固定步长(如温度每次升高10°C,振动Grms每次增加3g)逐步增加,直到出现故障或达到预设极限(如设计极限 DL,破坏极限 UL)。快速高效定位工作极限和破坏极限。
恒定应力试验 (Constant-Stress): 在选定的高应力水平下持续测试,记录故障时间。需要较多样本和较长时间,常用于寿命分布建模。
时间/循环次数: 确定试验的总时长或循环次数。对于加速试验,需要基于加速模型计算等效使用时间。
应力施加顺序/组合: 考虑应力的交互作用。例如,先进行温度循环暴露热机械问题,再进行振动暴露松动问题;或在HALT中同时施加温变率和宽带随机振动。
加速模型: 建立应力水平与失效时间的关系模型,用于将试验结果外推到正常使用条件。
阿伦尼乌斯模型 (Arrhenius): 温度加速(化学、扩散过程主导失效)。AF = exp[(Ea/k)*(1/T_use - 1/T_test)] (AF: 加速因子, Ea: 活化能, k: 玻尔兹曼常数, T: 绝对温度)。
逆幂律模型 (Inverse Power Law): 电压、压力、振动应力等加速。L_use / L_test = (S_test / S_use)^n (L: 寿命, S: 应力水平, n: 加速指数)。
艾林模型 (Eyring): 考虑温度和另一个应力(如湿度、电压)的联合作用。
Coffin-Manson: 温度循环疲劳失效。N_f ∝ (ΔT)^(-β) (N_f: 失效循环次数, ΔT: 温变范围, β: 材料常数)。
4. 定义失效判据与监测方法
明确失效标准: 什么情况算作故障?如:
功能完全丧失。
关键性能参数超出允许公差(如输出电压波动>±5%)。
出现间歇性故障。
安全保护机制(如过温保护)非预期触发。
物理损伤(开裂、变形、烧毁)。
设计监测方案:
在线监测: 实时采集关键性能参数(电压、电流、温度、转速、通信信号、传感器数据)、功耗、功能状态(通过自动测试软件)。
周期测试: 在应力施加间隙(如温度稳定时)进行功能测试和性能参数测量。
物理检查: 试验中或试验后,进行目视检查、X光检查 (X-ray)、扫描声学显微镜 (CSAM) 检查、显微切片分析等,发现内部缺陷。
5. 样本量与资源规划
样本量: 受限于预算、时间、样机可得性。通常原则:
高风险、新设计、复杂部件:样本量宜多(如 3-5 个或更多)。
低风险、成熟模块:可适当减少(如 1-2 个)。
HALT 探索性试验:通常 1-2 个样本即可。
定量可靠性验证 (如 ALT):需要基于统计置信度和目标可靠性指标计算样本量。
资源准备: 试验设备(温箱、振动台、电源、数据采集仪)、工装夹具(确保应力有效传递)、测试软件/脚本、人员、场地、时间。
6. 试验方案文档化
编写详细的试验计划 (Test Plan) 和试验程序 (Test Procedure),明确:
目的与范围。
参考标准(内部/外部,如 IEC 60068, MIL-STD-810, IPC-9701)。
受试样品信息与状态。
详细的应力剖面(类型、水平、时间、顺序、升降速率)。
失效判据。
监测方法与参数清单。
试验设备与工装要求。
数据记录要求。
安全注意事项。
四、高效利器:HALT/HASS 在故障激发中的应用
高加速寿命试验 (HALT - Highly Accelerated Life Test):
目的: 在产品设计阶段,快速、主动地发现设计缺陷和薄弱环节,确定产品的操作极限 (OL) 和破坏极限 (DL)。
方法: 对少量工程样机施加远高于预期规格的、步进递增的综合应力(通常是快速温变率的温度循环 + 宽带随机振动,也可加入其他如电压、湿度)。应力水平持续增加直至出现故障。
关键输出: 识别出的故障模式、故障机理、工作裕度(OL - 规格限)、破坏裕度(DL - OL)。驱动设计改进,根本性提升固有可靠性。
高加速应力筛选 (HASS - Highly Accelerated Stress Screen):
目的: 在产品生产阶段,快速高效地剔除制造过程引入的缺陷(如虚焊、元器件缺陷、装配错误、工艺偏差)。
方法: 对量产产品进行100%或抽样筛选。施加的应力水平略低于HALT找到的破坏极限 (DL),但远高于正常使用应力和规格限,且施加时间很短(通常几分钟到几小时)。常用快速温变 + 宽带随机振动。
关键输出: 筛选出“婴儿期”故障品,确保交付产品的早期可靠性。不是提高固有可靠性,而是剔除制造缺陷。
五、试验执行、分析与闭环
严格执行: 按批准的试验程序操作,详细记录所有应力参数、监测数据、观察现象。
故障观察与记录: 一旦发生故障,立即记录:
发生时间/循环数。
当时的应力条件。
故障现象(功能丧失?参数漂移?冒烟?异响?)。
初步判断的故障位置/部件。
故障诊断 (FA - Failure Analysis): 这是试验价值最大化的核心!
目标: 确定精确的失效位置,揭示根本的失效物理机理,追溯设计或制造上的根本原因。
流程: 外观检查 -> 电性能测试 -> 无损检测 (X-ray, CSAM) -> 逐层拆解 -> 失效点定位(显微镜、探针台) -> 物理/化学分析(SEM/EDS, FIB, 切片) -> 机理分析 -> 根因判定(设计缺陷?元器件问题?工艺问题?)。
结果分析与报告:
汇总所有故障信息(模式、机理、根因)。
分析应力水平与失效时间/循环的关系。
计算加速因子和等效寿命(如适用)。
评估产品可靠性水平是否满足目标。
识别设计、物料、工艺的关键改进点。
闭环改进:
设计变更: 修改设计以消除根本原因(如增加散热、优化结构、选用更可靠器件、增加保护电路、优化布局布线)。
工艺优化: 改进焊接参数、装配流程、清洁工艺等。
物料管控: 加强关键元器件供应商管理、来料检验。
测试规范更新: 将有效的故障激发方法纳入后续产品的DV/PV(设计验证/生产验证)测试规范或HASS筛选程序中。
FMEA/FTA 更新: 根据试验和FA结果,更新失效模式库和风险评估。
六、挑战与最佳实践
挑战:
新品的“未知”特性: 初始故障模式识别可能不全。
加速模型的适用性: 模型选择错误或参数不准导致外推结果失真。
过度设计风险: 过度追求激发故障可能导致设计过于保守,成本过高。
资源投入: 试验设备、FA设备、专业人才投入大。
破坏性: 试验本身可能导致样品不可恢复。
最佳实践:
早期介入: 在产品概念和设计阶段就启动FMEA和初步试验规划。
跨职能团队: 设计、测试、可靠性、制造、物料、质量工程师紧密合作。
迭代进行: 设计 -> 样机 -> HALT/探索性试验 -> FA -> 改进设计 -> 再试验。多轮迭代优化。
重视FA: 投入资源建立强大的失效分析能力,没有FA的故障激发试验价值大打折扣。
活用HALT/HASS: 将HALT作为设计阶段的必选项,将HASS作为量产阶段的质量闸门。
知识管理: 建立企业级的故障模式库、失效分析案例库、加速试验经验库。
结合其他方法: 与可靠性预计、仿真分析、现场数据(如有类似产品)相结合,相互印证。
结语:预见故障,方能创造完美
故障激发试验绝非简单的“破坏性测试”,它是一门融合了失效物理、加速试验理论、精密测量与深度分析的严谨科学。在新品开发中主动拥抱这一策略,意味着企业将“事后救火”转变为“事前防火”,将“未知恐惧”转化为“可靠信心”。
每一次成功的故障激发,都是对产品生命力的一次有力加冕。它让我们得以在实验室中预见未来可能的风暴,在图纸上化解用户可能遭遇的困境。乔布斯曾言:“预见未来的最好方式,就是亲手创造它。”在可靠性工程的语境中,预见故障的最好方式,正是通过科学严谨的故障激发试验,主动将其“创造”于受控环境之中。这不仅是对技术的尊重,更是对用户的承诺——让每一个走出实验室的产品,都经得起时间的追问,承载得起用户的信任。
来源:可靠性工程学