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飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)在表面异物分析中的应用

嘉峪检测网        2018-05-23 10:26

        某连接器夏天存放的时候在表面会出现一些白点,而且白点一般从无到有,并会慢慢的长大。检测机构对白点的成分进行分析,鉴于表面异物含量比较少,所以采用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)的分析手段。

 

分析方法简述

        TOF-SIMS是一种有效的表面分析手段,能检测氢在内的所有元素及同位素,并能分析有机物的官能团。所以对样品表面进行TOF-SIMS分析,失效点(产生白点的位置)和正常位置的测试结果如下图所示,由谱图可知,相比正常位置,失效点含有较高的Cl和Br。由此推断:失效点含有较高含量的Cl和Br(极性强,易吸湿),在夏季湿热的环境下,吸潮形成电解液,产生电化学腐蚀,导致连接器表面产生白点,随着腐蚀加深,白点慢慢扩散、变大。这可能是引起该连接器产生白点的主要原因。

 

飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)在表面异物分析中的应用

样品测试结果图片

 

 

 

 

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来源:嘉峪检测网