一、产品概述

该产品为全金属结构，内分为两个腔体，其中一腔体需要做成完全封闭式腔体，腔体内为主控芯片板和一些主要功能部件，另一腔体内为连接外部设备的转接小板，小板仅有两个接口：DC5V外接电源接口和数据传输的USB接口。经过辐射测试发现有24MHz倍频杂讯辐射问题。

二、整改分析

（一）电路分析   此产品整个电路中，有一个典型的时钟晶振电路；其工作频率就是24MHz,经分析发现其主要的干扰源就是该晶振。

▲ 示意电路图

（二）数据分析   

▲（未整改测试数据：垂直极性）

（未整改测试数据：水平极性）

从测试数据的结果来看，超标的频点全都是24MHz的倍频，干扰能量主要是晶振频点的倍频，且能量很高，超标的点比较多。要解决问题需要，从晶振电路的辐射路径进行EMC控制。

（三）干扰分析   

该产品外壳结构屏蔽良好，搭接处经过打磨、导电泡棉处理，但是测试超标点改善有限，整机测试只有电源线和USB线引出箱体，怀疑干扰频点是由电源线和USB线辐射出来的吗？故分别作了一下几步测试：

1、仅在电源线上加磁环，测试结果：改善不明显；

2、仅在USB线上加磁环，测试结果：改善仍然不明显；

3、在USB线和电源线都加磁环，测试结果：改善较明显，干扰频点整体有所下降。

从上可得，干扰频点是从两个接口带出来的，并非是电源接口或USB接口的问题，而是内部干扰频点耦合到这两个接口所导致的，仅屏蔽某一接口不能解决问题。经过近场量测发现，干扰频点来自封闭腔体内，杂讯通过接口转接小板与封闭腔体。

内主板相连的USB排线和制冷片电源线耦合出来，导致整个转接小板上到处都有干扰频点杂讯。尤其是制冷片电源线耦合的杂讯最严重。

通过观察发现主板上有一24MHz晶振下方正好是制冷片的电源线，且电源比较长，而USB线距离晶振稍远一些，且比较短。

三、整改对策

1、制冷片电源线要短一些，且使用铜箔将腔体内制冷片电源线包覆起来，并与金属体相连接地；

2、USB排线也需要进行屏蔽接地处理；USB接口金属外壳需要与样机的外壳相连，建议在USB金属接口上设计金属弹片。

3、在制冷片正负电源线与转接小板相连处各加一多孔珠进行滤波处理；外接的USB线屏蔽效果需要良好。（一般屏蔽效果好的USB线要求：外层屏蔽编织网的编织率到达85%以上，且编制网两端要进行较好的接地处理）

▲ 整改措施示意图

四、案例总结

经过相应的整改和改版设计，产品最终测试数据如下：

结案小结：

晶振时钟频率高，干扰谐波能量强；谐波干扰除了从其输入与输出传导出来，还会从空间辐射出来，若有未屏蔽的其他信号传输线在晶振电路附近经过，就会使干扰能量耦合到传输线上，直接由传输线带出来。

对于这类从空间耦合所导致传输线带出干扰问题，最好的方式就是找到辐射源头和辐射的路径，再通过结构屏蔽和电路滤波解决问题。