海思芯片ESD & Latch-up 测试技术规范（25页）

• 资料介绍

  海思芯片ESD & Latch-up 测试技术规范（25页）

  适用范围:
  本规范规定了ESD&LatchUp测试的具体流程以及相关技术标准，适用于量产的项目芯片的ESD &Latch Up评估。
   
  简介:
  ESD测试主要用于评估芯片的抗ESD电压水平。抗ESD电压低的芯片容易在生产、运输、安装的过程中，出现大量芯片的失效。LatchUp测试主要用于评估芯片的抗闩锁能力。抗门锁能力低的芯片在应用过程中，输入电流或者电压的波动很容易造成芯片内部出现闩锁失效。ESD&LatchUp测试是芯片量产前的关键测试，是判断芯片能否量产的主要判据。
   

• 资料大小：
  1719.66KB
• 所属类别：
  实验管理
• 更新日期：
  2022-06-23
• 适用行业：
  电子电气
• 上传人：
  Simonx
• 标 签：

  芯片 海思 ESD Latch-up

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