海思HAST测试技术规范V1.2（5页）

• 资料介绍

  海思HAST测试技术规范V1.2（5页）

  适用范围:
  该试验检查芯片长期贮存条件下，高温和时间对器件的影响。本规范适用于量产芯片验证测试阶段的HAST测试需求，仅针对非密封封装(塑料封装)，带偏置bHAST)和不带偏置(uHAST)的测试。
   
  简介:
  该试验通过温度、湿度、大气压力加速条件，评估非密封封装器件在上电状态下，在高温、高压、潮湿环境中的可靠性。它采用了严格的温度，湿度，大气压、电压条件，该条件会加速水分渗透到材料内部与金属导体之间的电化学反应。
   

• 资料大小：
  510.9KB
• 所属类别：
  科研开发
• 更新日期：
  2022-06-23
• 适用行业：
  电子电气
• 上传人：
  Simonx
• 标 签：

  芯片 海思 HAST

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