芯片失效模式与测试方法培训PPT(31页)

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    主要内容

    芯片测试的意义

    晶圆片上的污染

    黑盒测试

    故障模型

    硬桥接故障

    参数故障(弱桥接)

    晶体管故障

    组合电路的测试模板

    时序电路

    扫描路径

    测试能力设计(DFT,design for testability)

    边界扫描

    TAP控制器

    IDDQ测试

    芯片可靠性

     

  • 320.54KB
  • 科研开发
  • 2021-06-21
  • 电子电气;特种设备;机动车;医疗器械