集成电路IC测试方法研究.doc(80页)

• 资料介绍

  集成电路IC测试方法研究.doc(80页)

  1  序言

  2  集成电路可测试性设计的基本概念

  3  边界扫描测试方法

  4  全扫描可测试性实现方法

  5  集成电路的低功耗DFT方法

  6  测试调度问题

  7  总结与展望

• 资料大小：
  1080.05KB
• 所属类别：
  法规标准
• 更新日期：
  2020-11-02
• 适用行业：
  电子电气
• 上传人：
  wutong2020
• 标 签：

  集成电路 IC测试

  下载资料 上传资料