测量设备的期间核查仅针对A类和B类设备，目的是保持设备性能的可信度。 并不针对C类设备
设备A、B、C类分类标准，请参考本公众号2023年11月14日的文章
2、设备期间核查的基本要求
期间核查是测量设备校准或核查后对其测量功能和性能的核查， 其目的是为 了维持设备的性能和状态。
实验室可根据测量设备的稳定性、期间核查的成本、 风险、核查标准的可获得性、校准周期的长短等因素来确定进行期间核查设备的 范围及核查频次。
测量设备实验室应制定期间核查计划， 并针对具体的设备或计量参数的各自 特点,从经济性、实用性、可靠性、可行性等方面综合考虑制定具体的期间核查 作业指导书。
期间核查计划和记录统一归档保存。
3、确认期间核查设备需要考虑的因素
a）使用频繁；
b）检定或校准周期较长（如≥2年）；
c）使用环境严酷或使用环境发生剧烈变化；
d）使用过程中容易受损、数据易变或对数据存疑的；
e）脱离实验室直接控制后返回的；
f）稳定性差的设备；
g）近几次连续校准数据趋势不良的设备。
4、设备期间核查方法
a）校准核查法
实验室具有被核查测量设备校准用的标准仪器， 则可选常用的测量点对其进 行校准核查。当核查点的测量结果不超过测量设备的最大允许误差时， 则核查通 过。
b）参考值核查法 采用参考值为Xref ，
稳定性较好的核查标准（如标准样品） ，用被核查设备
对核查标准进行测量得到测量值为Xlab ，被核查设备的最大允许误差为δ , 若 Xlab - Xref < δ ,则核查通过。
c）设备比对法
如果实验室有准确度相当的同类n（n≥3）台（套） 测量设备， 可以采用设备 比对法。即用多台同类测量设备测量同一稳定样品，进行结果评价。
