AEC-Q002 Rev B 统计产量分析指南（6页）

• 资料介绍

  GUIDELINES FOR STATISTICAL YIELD ANALYSIS

  AEC-Q002 Rev B 统计产量分析指南（6页）

  1. 范围

  本指南旨在用作检测和去除异常大量材料的方法，从而确保提供的 IC 符合 AEC-Q100 或 AEC-Q101 的质量和可靠性。

  本指南中描述的原则适用于封装或未封装芯片。

  1.1 目的

  本指南描述了一种方法，利用基于统计良率限制 (SYL) 和统计仓限 (SBL) 统计计算的统计技术，识别表现出异常低良率或异常高仓故障的晶圆、晶圆批次或组装批次速度。经验表明，表现出这些异常特征的晶圆和组装批次通常质量较差，并可能导致严重的系统可靠性和质量问题。

  应用的确切方法可能与本指南中描述的不同，特别是如果分布是非正态的。可以在具有良好统计理由的情况下使用此类衍生方法。供应商应准备好证明所使用的统计方法的合理性。

  注意：为获得最佳 SYL 和 SBL 结果，请使用基于部件平均测试限值 (PAT) 的测试限值，如 AEC Q001 中所述。

   

• 资料大小：
  142.7KB
• 所属类别：
  法规标准
• 更新日期：
  2021-09-10
• 适用行业：
  电子电气；机动车
• 上传人：
  Chennnn
• 标 签：

  芯片

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