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检测项：反向电流IR 检测样品：双极型 晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994
检测项：输入失调电流 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项：输入偏置电流 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：电特性 检测样品：非金融IC卡（接触式） 标准：ISO/IEC 7816-1-2011 识别卡.集成电路卡.第1部分:带触电的卡.物理特征
检测项：信道带宽 检测样品：Wimax基站 标准：ISO/IEC 10373-3-2010 识别卡 测试方法 第3部分：带触点的集成电路卡及相关器件
检测项：信道带宽 检测样品：Wimax基站 标准：ISO/IEC 7816-1-2011 识别卡.集成电路卡.第1部分:带触电的卡.物理特征
机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>
检测项：稳态湿热 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997
检测项：高温贮存 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997
检测项：第一位特征数字所表示的防止固体异物进入试验 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994
检测项：触点的尺寸 检测样品：带触点的集成电路卡及其受理设备 标准：不测点压力
检测项：触点的数量和位置 检测样品：带触点的集成电路卡及其受理设备 标准：不测点压力
检测项：触点的分配 检测样品：带触点的集成电路卡及其受理设备 标准：不测点压力
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：X射线检查 检测样品：密封半导体集成电路 标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法 》
检测项：芯片粘接的超声检测 检测样品：密封半导体集成电路 标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法 》
检测项：粒子碰撞噪声检测(PIND) 检测样品：密封半导体集成电路 标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法 》
机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>
检测项：保安单元 检测样品：总配线架保安单元 标准：中国网通《集成电路过电压过电流保安单元总体要求》
检测项：过电压保护电气特性 检测样品：总配线架保安单元 标准：中国网通《集成电路过电压过电流保安单元总体要求》
检测项：过电流保护限流特性 检测样品：射频连接器 标准：YD/T 1329-2004通信设备过电压过电流保护用集成电路型保安单元
检测项：电压调整率 检测样品：TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996
检测项：电流调整率 检测样品：TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996
检测项：消耗电流 检测样品：TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996
机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>
检测项：发射极-基极截止电流 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管GB/T4587-1994
检测项：集电极-发射极截止电流 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管GB/T4587-1994
检测项：集电极-基极击穿电压 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管GB/T4587-1994
检测项：发射极-基极截止电流 检测样品：双极型晶体管 标准：GB/T 4587-1994 半导体器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管
检测项：基极-发射极饱和电压 检测样品：双极型晶体管 标准：GB/T 4587-1994 半导体器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管
检测项：输入失调电流 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项：接收带宽 检测样品：集成电路卡（ICC） 标准：交通运输部2011年第13号公告《收费公路联网电子不停车收费技术要求》
检测项：业务功能 检测样品：集成电路卡（ICC） 标准：交通运输部2011年第13号公告《收费公路联网电子不停车收费技术要求》
检测项：外观 检测样品：集成电路卡（ICC） 标准：交通运输部2011年第13号公告《收费公路联网电子不停车收费技术要求》
