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机构所在地:湖北省武汉市
检测项:精度EA 检测样品:时基电路 标准:《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996
机构所在地:贵州省贵阳市
检测项:全部项目** 检测样品:具有中央处理器的集成电路(IC)卡芯片 标准:《信息安全技术 具有中央处理器的集成电路(IC)卡芯片安全技术要求》 GB/T 22186-2008
机构所在地:上海市
机构所在地:湖北省孝感市