您当前的位置:首页 > 中国工程物理研究院计量测试中心 > 密封半导体集成电路中芯片粘接的超声检测检测

  • 中国工程物理研究院计量测试中心

  • 四川省绵阳市

咨询电话:400-818-0021

免费发布检测需求

登陆查看更多联系方式

密封半导体集成电路中芯片粘接的超声检测检测

  • 样品名称:密封半导体集成电路

  • 检测项目:芯片粘接的超声检测

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法 》

  • 所属行业分类:电子电气

  • 标签: 芯片粘接的超声检测 密封半导体集成电路

密封半导体集成电路中芯片粘接的超声检测更多检测机构

  • 我要留言 国家电子电器产品检测中心
  • 我要留言 中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心
  • 我要留言 西安东风仪表厂可靠性试验检测中心
  • 我要留言 中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心
  • 我要留言 中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心
  • 我要留言 北京光华无线电厂检测试验中心