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检测项:输入失调电压VIO 检测样品:电压比较器 标准:GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:低压电气及电子设备发出的谐波电流限值(设备每相输入电流≤16A) 检测样品:工业、科学和医疗射频设备 标准:(1)GB/T17625.1-2003 (2)IEC 61000-3-2:2005 《电磁兼容 限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)》
检测项:直流电源输入端口纹波 检测样品:工业、科学和医疗射频设备 标准:GB/T 17626.17-2005/ IEC61000-4-17:2002 《电磁兼容试验和测量技术—直流电源输入端口纹波抗扰度试验》
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压VIO 检测样品:A/D、D/A转换器 标准:半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996
检测项:短路电流 检测样品:运算 放大器 标准:半导体集成电路运算放大器测试方法基本原理 SJ/T10738-1996
检测项:开环增益AVO 检测样品:运算 放大器 标准:半导体集成电路运算放大器测试方法基本原理 SJ/T10738-1996
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压 检测样品:运算(电压)放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输入失调电压 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996
检测项:输入低电平 电压 检测样品:运算(电压)放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项:差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压 检测样品:RF器件 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项:输入失调电压温度系数 检测样品:RF器件 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路运算(电压) 放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输入失调电压 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项:输入失调电流 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项:输入失调电压 检测样品:半导体集成运算放大器 标准:SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:集电极-基极击穿电压 检测样品:半导体集成运算放大器 标准:SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:输入失调电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压(VOS) 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体器件 集成电路第3部分:模拟集成电路 GB/T17940-2000
检测项:输入偏置电流(IB) 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体器件 集成电路第3部分:模拟集成电路 GB/T17940-2000
检测项:输入失调电流(IOS) 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体器件 集成电路第3部分:模拟集成电路 GB/T17940-2000
检测项:输入失调电压 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
检测项:输入失调电流 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
检测项:输入失调电压 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-96 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:输入失调电压 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-96 《半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理》
检测项:输入失调电压 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省连云港市 更多相关信息>>