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检测项:复位电流 检测样品:混合集成电路 标准:膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996
检测项:复位电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
检测项:电流调整率和电流稳定系数 检测样品:半导体集成电路电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:复位电流 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992
检测项:复位电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992
检测项:电流调整率和电流稳定系数 检测样品:半导体集成电路电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:复位电流 检测样品:电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第
检测项:复位电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路 测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
检测项:大电流注入(BCI)法 检测样品:机动车电子电器组件 标准:机动车电子电器组件的电磁辐射抗扰性限值和测量方法 GB/T17619-1998
检测项:复位电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:复位电压 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输入高电平电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:IR: 反向电流 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)
检测项:谐波电流发射 检测样品:电子电气设备 标准:GB 17625.1-2012 EN 61000-3-2:2006+A2:2009 IEC61000-3-2:2005 +A1:2008+A2:2009 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值 (设备每相输入电流≤16A)
检测项:ICBO:集电极与基极间反向漏电流 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:反向电流IR 检测样品:二极管 标准:GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管
检测项:栅极截止电流IGSS 检测样品:场效应晶体管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件分立器件 第9部分:场效应晶体管
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:反向电流IR 检测样品:二极管 标准:1、GB/T 4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 2、GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 3、GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分:微波器件
检测项:反向电流IR 检测样品:发光二极管 标准:1、GB/T 18904.3-2002 半导体器件第12-3部分:光电子器件显示用发光二极管空白详细规范 2、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法 3、SJ/T 11394-2009 半导体二极
机构所在地:河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项:反向电流IR 检测样品:二极管 标准:半导体器件分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分: 整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项:部分参数 检测样品:电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项:发射极-基极截止电流IEBO 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分:场效应晶体管 GB/T 4587-1994
机构所在地:湖北省孝感市 更多相关信息>>
检测项:电流传输比 检测样品:光电耦合器 标准:半导体光电耦合器测试方法 SJ 2215.1~2215.14-1982
检测项:复位电压 检测样品:模拟开关 标准:半导体集成电路模拟开关测试方法 的基本原理 GB/T 14028-1992
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:反向漏电流(IR) 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T4587-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
检测项:输入偏置电流(IB) 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体器件 集成电路第3部分:模拟集成电路 GB/T17940-2000
检测项:输入失调电流(IOS) 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体器件 集成电路第3部分:模拟集成电路 GB/T17940-2000
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>