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检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理
机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项：增益 检测样品：射频同轴连接器 标准：GB/T 16850-1997 光纤放大器基本试验方法
检测项：增益斜率 检测样品：射频同轴连接器 标准：YD/T 640-2012 通信设备用射频连接器技术要求及检测方法
检测项：向量矢量误差 (EVM) 检测样品：WLAN设备 标准：IEEE802.11n无线局域网媒体访问控制(MAC)和物理层(PHY)规范.增强到更高的吞吐量
机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>
检测项：开环电压增益AVO 检测样品：运算放大器 标准：GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》
检测项：开环电压增益AVD 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：自动增益控制特性 检测样品：调频广播接收机 标准：调频广播接收机测量 方法 GB/T 6163-2011
检测项：增益 检测样品：声频功率放大器 标准：声系统设备 第3部分:声频放大器测量方法 GB/T 12060.3-2011
检测项：多通道放大器中通道间的增益差和相位差 检测样品：声频功率放大器 标准：声系统设备 第3部分:声频放大器测量方法 GB/T 12060.3-2011
机构所在地：福建省福州市 更多相关信息>>
检测项：形位公差 检测样品：机械零件 标准：产品几何量技术规范（GPS） 形状和位置公差检测规定 GB/T 1958-2004 直线度误差检测 GB/T 11336-2004 平面度误差检测 GB/T 11337-2004 圆度误差的评定 两点、三点法 GB/T4380-2004
检测项：位置误差 检测样品：机械零件 标准：产品几何量技术规范(GPS） 形状和位置公差检测规定 GB/T 1958-2004 直线度误差检测 GB/T11336-2004 平面度误差检测 GB/T11337-2004
检测项：温度波动度 检测样品：机械零件 标准：产品几何量技术规范(GPS） 形状和位置公差检测规定 GB/T 1958-2004 直线度误差检测 GB/T11336-2004 平面度误差检测 GB/T11337-2004
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项：直线度 检测样品：机械零件 标准：直线度误差检测 GB/T 11336-2004 平面度误差检测 GB/T 11337-2004 产品几何量技术规范(GPS)评定圆度误差的方法-半径变化量测量 GB/T7235-2004 产品几何技术规范（GPS）形状和位置公差
检测项：平面度 检测样品：机械零件 标准：直线度误差检测 GB/T 11336-2004 平面度误差检测 GB/T 11337-2004 产品几何量技术规范(GPS)评定圆度误差的方法-半径变化量测量 GB/T7235-2004 产品几何技术规范（GPS）形状和位置公差
检测项：圆度 检测样品：机械零件 标准：直线度误差检测 GB/T 11336-2004 平面度误差检测 GB/T 11337-2004 产品几何量技术规范(GPS)评定圆度误差的方法-半径变化量测量 GB/T7235-2004 产品几何技术规范（GPS）形状和位置公差
机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项：基本误差 检测样品： 标准：
检测项：误差曲线 检测样品： 标准：
检测项：示值误差 检测样品：膜式燃气表 标准：《膜式燃气表》GB/T6968-2011
机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>
检测项：示值误差 检测样品：微孔滤膜 标准：微孔滤膜 HY/T053-2001
检测项：波高示值误差 检测样品：重力加速度式 波浪浮标 标准：波浪浮标 HY/T089-2005
检测项：波周期示值误差 检测样品：重力加速度式 波浪浮标 标准：波浪浮标 HY/T089-2005
机构所在地：天津市 更多相关信息>>
检测项：误差测量 检测样品：母线 标准：《电力设备预防性试验规程》DL/T 596-1996
检测项：基本误差 检测样品：煤矿用电化学式一氧化碳传感器 标准：《煤矿用电化学式一氧化碳传感器》AQ6205-2006
检测项：基本误差测定 检测样品：矿用风筒涂覆布 标准：《煤矿用风筒涂覆布技术条件》MT383-1995
机构所在地：山东省枣庄市 更多相关信息>>
