官方微信
您当前的位置:首页 > 输入高电平电流IIH
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:CMOS 电路测试 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:TTL 电路测试 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:CMOS 电路测试 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 (GB 3834-1983)
机构所在地:辽宁省沈阳市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成电路TTL电路、CMOS电路 标准:GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》
检测项:高电平输出电流IOH 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:模拟集成电路 标准:GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理》
检测项:输入高电平电压VIH 检测样品:数字集成电路 标准:SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
检测项:输出高电平电流IOH 检测样品:模拟集成电路 标准:GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理》
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项:输出高电平电流IOH 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项:模拟输入电流AI 检测样品:混合集成电路A/D、D/A变换器 标准:SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:高电平输入电流IIH 检测样品:半导体集成电路(数字集成电路) 标准:1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第
检测项:输入失调电流IIO 检测样品:半导体集成电路(稳压器) 标准:1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
检测项:输入电流II 检测样品:电子元器件(物理试验) 标准:1.GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序,方法2009.1 2.GJB128A-1997半导体分立器件试验方法,方法2068,方法2071
检测项:DAC数字输入高电平、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流、基准电压 检测样品:集成电路A/D和D/A转换器 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项:ADC数字输入高电平、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流 检测样品:集成电路A/D和D/A转换器 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项:高电平输出电流 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电流和输入低电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项:输入高电平电流和输入低电平电流 检测样品:RF器件 标准:半导体器件 集成电路 第2部分: 数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项:输入高电平电流和输入低电平电流 检测样品:FPGA现场可编程器件 标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输入高电平电流 检测样品:ECL电路 标准:半导体集成电路ECL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10737-1996
检测项:输入高电平电流 检测样品:TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输入高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>