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检测项：栅-源阈值电压 检测样品：场效应 晶体管 标准：半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管GB/T4586-1994第 Ⅳ 章2、3、6、 10、15条
检测项：直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度 检测样品：信息技术产品 标准：电磁兼容 试验和测量技术直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 GB/T 17626.29-2006 IEC 61000-4-29:2000
机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>
检测项：栅-源阈值电压VGS（th） 检测样品：场效应晶体管 标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项：部分参数 检测样品：运算（电压）放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项：部分参数 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 J/T 10805-2000
机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>
检测项：栅-源阈值电压 检测样品：场效应晶体管 标准：半导体器件 分立器件 第8部分： 场效应晶体管 GB/T4586-1994
检测项：音频传导敏感性--电源输入 检测样品：机载设备 标准：机载设备的环境条件和测试程序 RTCA D0-160F-2007
检测项：输入钳位电压 检测样品：TTL集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理
检测项：输出电压VO 检测样品：DC/DC模块 标准：SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项：栅-源阈值电压VGS(to） 检测样品：场效应晶体管 标准：1、GB/T 4586-1994 半导体器件第8部分：场效应晶体管 2、GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件
检测项：输入功率 检测样品：LED筒灯 标准：1、GB/T 29293-2012 LED筒灯性能测量方法 2、GB/T 29294-2012 LED筒灯 性能要求
机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项：栅源阈值电压（VGS(th)） 检测样品：场效应管 标准：半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
检测项：输入失调电压(VOS) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000
检测项：输入偏置电流(IB) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：PIN输入过程中监控 检测样品：银联PIN输入设备安全 标准：
检测项：输入PIN区别 检测样品：银联PIN输入设备安全 标准：
检测项：PIN输入过程中可听到的音调 检测样品：银联PIN输入设备安全 标准：
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：输入功率 检测样品： 标准：
检测项：输入阻抗 检测样品： 标准：
检测项：谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） 检测样品：家用电器 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2003 / IEC61000-3-2:2001
检测项：输入/输出电压驻波比 检测样品： 标准：
机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>
