施耐德电气(中国)有限公司上海分公司电力实验室

检测项：短路试验 检测样品：家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCCB） 标准：家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCCB）第1部分：一般规则 GB 16916.1-2003 (A1:2010) IEC 61008-1:2010

检测项：在短路情况下，验证RCCB的工作状况 检测样品：家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCCB） 标准：家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCCB）第1部分：一般规则 GB 16916.1-2003 (A1:2010) IEC 61008-1:2010

检测项：短路试验 检测样品：家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCBO） 标准：家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCBO）第1部分：一般规则 GB 16917.1-2003 (A1:2010) IEC 61009-1:2010

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中检集团南方电子产品测试（深圳）有限公司

检测项：部分项目 检测样品：家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作短路器(RCCB) 标准：家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作短路器(RCCB)第1部分 一般规则 GB 16916.1-2003

检测项：部分项目 检测样品：家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作短路器(RCBO) 标准：家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作短路器(RCBO)第1部分 一般规则 GB/T 16917.1-2003

检测项：部分项目 检测样品：家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作短路器(RCCB) 标准：家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作短路器(RCCB)第1部分 一般规则 GB 16916.1-2003

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：漏-源短路时， 栅极截止电流 栅极漏泄电流 IGSS 检测样品：场效应晶 体管 标准：GB/T 4586－94《半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管》

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：模拟开关/多路器系列集成电路 标准：GB/T14028-92《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：1026 稳态工作寿命 检测样品：半导体器件 标准：GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

浙江顶峰技术服务有限公司

检测项：短路电流试验 检测样品：分流插座和转换器 标准：分流插座和转换器 UL 498A:2008（Ed.2）

检测项：短路电流试验 检测样品：卷线盘 标准：卷线盘标准 UL355:2004（Ed.10）

检测项：结构 检测样品：灯具 标准：灯具 第1部分：一般要求与试验 GB 7000.1-2007 IEC 60598-1:2008 EN 60598-1:2008 + A11:2009 AS/NZS 60598.1:2003

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：输出短路电流 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出短路电流 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出短路电流 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输出短路电流 检测样品：TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996

检测项：小信号短路正向跨导gfs 检测样品：场效应管 标准：半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

上海电缆研究所检测中心

检测项：部分项目 检测样品：通信用光纤 标准：光纤复合架空地线 DL/T832-2003

检测项：部分项目 检测样品：通信用光纤 标准：光纤复合架空地线（OPGW）用预绞式金具 DL/T766-2003

检测项：部分项目 检测样品：通信光缆 标准：第2部分：光缆基本试验方法 GB/T 7424.2-2008

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：漏--源短路时的栅极截止电流IGSS 检测样品：晶体二极管 标准：GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：飞机炮振试验 检测样品：军工及民用（航空、航天、兵器和船舶）电气、电子和机械类产品 标准：GB/T2423.15-2008《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ga和导则：稳态加速度》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：极限短路电流（基准部分）IOS 检测样品：脉宽调制器 标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993

检测项：输入负载电流ILI 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

华北电力科学研究院有限责任公司

检测项：组串短路电流测试 检测样品：光伏发电单元 标准：《并网光伏系统：系统文档、调试和检测的最低要求》 IEC 62446:版本 1.0 2009-05

检测项：组串短路电流测试 检测样品：电气产品 (电磁兼容) 标准：《500kV超高压送变电工程电磁辐射环境影响评价技术规范》HJ/T 24-1998

检测项：测录三相短路特性曲线 检测样品：同步发电机及调相机 标准：《电气装置安装工程 电气设备交接试验标准》GB 50150-2006 （3.同步发电机及调相机） 《电力设备交接和预防性试验规程》Q/HBW-14701-2008 《电力设备交接和预防性试验规程》Q/CDT 107001-2005

机构所在地：北京市 更多相关信息>>