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检测项:反向漏电流 检测样品:双极型 晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
检测项:稳压管工作 电压 检测样品:双极型 晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
检测项:稳压管动态 电阻 检测样品:双极型 晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
机构所在地:四川省成都市
检测项:晶粒尺寸 检测样品:植物多晶体 标准:纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X 射线衍射线宽化法 GB/T 23413-2009 转靶多晶体X射线衍射方法通则 JY/T 009-1996
机构所在地:北京市
检测项:输入失调电流 检测样品:晶体三极管 标准:GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测项:输入偏置电流 检测样品:晶体三极管 标准:GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测项:开环电压增益 检测样品:晶体三极管 标准:GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
机构所在地:江苏省连云港市
检测项:材料的晶体结构分析、物相定性、定量分析 检测样品:金属粉末和粉末冶金制品 标准:转靶多晶体X射线衍射方法通则 JY/T 009-1996
检测项:材料的晶体结构分析、物相定性、定量分析 检测样品:金属粉末和粉末冶金制品 标准:转靶多晶体X射线衍射方法通则 JY/T 009-1996
机构所在地:上海市
检测项:输入二极管正向电压 检测样品:双极型晶体管 标准:《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》GB/T4587-1994
检测项:输入二极管反向电流 检测样品:双极型晶体管 标准:《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》GB/T4587-1994
检测项:电流传输比 检测样品:双极型晶体管 标准:《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》GB/T4587-1994
机构所在地:江苏省扬州市
检测项:碰撞 检测样品:低频放大管壳额定的双极型晶体管 标准:低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996
检测项:冲击 检测样品:低频放大管壳额定的双极型晶体管 标准:低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996
检测项:气候顺序 检测样品:低频放大管壳额定的双极型晶体管 标准:低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996
机构所在地:山东省济南市