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检测项:可见光照相 检测样品:照相 标准:《物证检验照相要求规则》 GA/T221-1999; 《近距离照相方法规则》GA/T222-1999; 《比例照相规则》GB/T23865-2009; 《脱影照像方法规则》GA/T157-1996; 《翻拍照相方法规则》GA/T156-1996; 《偏振
机构所在地:黑龙江省鹤岗市 更多相关信息>>
检测项:可见光照相 检测样品:照 相 标准:《刑事照相检验方法规则》GA/T221-1999 《近距离照相方法规则》GA/T222-1999 《脱影照像方法规则》 GA/T157-1996 《比例照相方法规则》GB/T23865-2009 公安部物证鉴定中心
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:鉴定,名称 检测样品:珠宝玉石 标准:GB/T 16553-2010 珠宝玉石 鉴定;GB/T 16552-2010 珠宝玉石 名称
机构所在地:福建省福州市 更多相关信息>>
检测项:可见光照相 检测样品:图像 标准:《翻拍照相方法规则》 GA/T 156-1996, 《脱影照相方法规则》 GA/T 157-1996, 《物证检验照相要求规则》GA/T 221-1999, 《近距离照相方法规则》 GA/T 222-1999, 《偏振光照相规则》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:可见光照相 检测样品:照 相 标准:《刑事照相负正片后期制作质量标准》GA/T119-1995 《翻拍照相方法规则》 GA/T156-1996 《脱影照相方法规则》 GA/T157-1996 《比例照相方法规则》 GA/T158-1996 《物证检验照相要求规则》 GA/T221-1999
检测项:可见光照相 检测样品:照 相 标准:刑事照相负正片后期制作质量标准GA/T 119-1995 翻拍照相方法规则 GA/T 156-1996 脱影照相方法规则 GA/T 157-1996 比例照相方法规则 GA/T 158-1996 物证检验照相要求规则 GA/T 221-1999 偏振光照相
机构所在地:福建省泉州市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:激光产品 标准:激光产品的安全.设备分类和要求和用户指南 GB 7247.1-2001 IEC 60825-1:1993+A1+A2 IEC 60825-1:2007 EN 60825-1:2007 AS/NZS 2211.1:2004
检测项:部分项目 检测样品:激光产品 标准:激光产品的安全 第1部分:设备分类、要求和用户指南 GB 7247.1-2001 GB 7247.1-2012 IEC 60825-1:1993 +A1:1997+A2:2001 IEC 60825-1:2007 EN 60825-1:2007 AS/N
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:可见光照相 检测样品:照相 标准:《刑事照相负正片后期制作质量标准》GA/T119-1995 《翻拍照相方法规则》 GA/T156-1996 《脱影照相方法规则》 GA/T157-1996 《比例照相方法规则》 GA/T158-1996 《物证检验照相要求规则》 GA/T221-1999
机构所在地:福建省三明市 更多相关信息>>
检测项:可见光照相 检测样品:特种 照相 标准:《翻拍照相方法规则》 GA/T156-1996 《物证检验照相要求规则》 GA/T 221-1999 《近距离照相方法规则》 GA/T 222-1999 《脱影照像方法规则》 GA/T 157-1996 《比例照相规则》 GB/T 23865-2009 公
检测项:可见光照相 检测样品:照相技术 标准:《翻拍照相方法规则》 GA/T156-1996 《物证检验照相要求规则》 GA/T 221-1999 《近距离照相方法规则》 GA/T 222-1999 《脱影照像方法规则》 GA/T 157-1996 《比例照相规则》 GB/T 23865-2009 公
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:持续燃烧时间 检测样品:建筑材料 标准:GB/T 16172-2007 建筑材料热释放速率试验方法 ISO 5660-1:2002 对火反应试验—热释放、产烟量及质量损失率,第1部分:热释放速率(锥形量热仪法) ASTM E1354-11b 用耗氧型量热计测试材料和产品的热量和可见烟释放速
检测项:产烟量 检测样品:建筑材料 标准:ISO 5660-2:2002 对火反应试验—热释放、产烟量及质量损失率,第2部分:产烟率(动态测试) ASTM E1354-11b 用耗氧型量热计测试材料和产品的热量和可见烟释放速率的方法 ISO 9705:1996 防火测试--表层材料全尺寸房间
机构所在地:天津市 更多相关信息>>
检测项:发光强度 检测样品:发光二极管 标准:半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电子器.测量方法 IEC 60747-5-3-2009 LED的测量 CIE-127-2007
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>