反向击穿电压检测实验

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半导体光电耦合器中反向击穿电压的检测

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成都凯天电子股份有限公司实验中心

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机械工业仪器仪表元器件质量检验所

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北京振兴计量测试研究所

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检测项：反向击穿电压检测样品：光电耦合器标准：半导体光电耦合器测试方法 SJ 2215.1～2215.14-1982

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中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：PD反向击穿电压检测样品：光纤连接器标准：PIN-FET光接收组件测试方法 YD/T 702-1993

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检测项：反向击穿电压检测样品：继电器标准：半导体光耦合器测试方法 SJ 2215.5-1982

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

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北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：反向击穿电压V(BR) 检测样品：双极型晶体管标准：GB/T4587-1994半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管

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检测项：反向击穿电压检测样品：二极管标准：GB/T4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管

宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：反向击穿电压检测样品：二极管标准：GB/T4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管

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