反向击穿电压检测实验

检测项：反向击穿电压检测样品：电阻器标准：《电子设备用固定电阻器第一部分:总规范》GB/T5729-2003

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

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检测项：集电极-发射极反向击穿电压检测样品：光电器件标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

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检测项：反向击穿电压检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件分立器件第2部分:整流二极管GB/T4023-1997Ⅳ篇1.3

检测项：反向击穿电压检测样品：电容器标准：电子设备用固定电容器第1部分总规范 GB/T2693－2001 第4.5、4.6、4.7、4.8、4.9条

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：反向击穿电压检测样品：电容标准：电子设备用固定电容器第1部分：总规范 GB/T2693-2001

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检测项：VCBO: 集电极与基极间反向击穿电压检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)

检测项：VCEO:集电极与发射极间反向击穿电压检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)

检测项：VEBO:发射极与基极间反向击穿电压检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)

检测项：反向击穿电压（V(BR)CEO）检测样品：电容器标准：电子设备用固定电容器第1部分：总规范 GB/T 2693-2001

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：反向击穿电压（V(BR)CEO）检测样品：电容器标准：电子设备用固定电容器第1部分：总规范 GB/T 2693-2001

检测项：反向击穿电压（V(BR)）检测样品：晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

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