| 固体电解质钽电容器0207 |
密封（对密封产品） |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.4 |
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| 固体电解质钽电容器0207 |
内部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.5 |
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| 固体电解质钽电容器0207 |
制样镜检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.6 |
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| 片式固体电解质钽电容器0208 |
外部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.2 |
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| 片式固体电解质钽电容器0208 |
制样镜检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3 |
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| 玻璃介质微调可变电容器0209 |
外部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.2 |
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| 玻璃介质微调可变电容器0209 |
密封（对密封产品） |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3 |
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| 玻璃介质微调可变电容器0209 |
内部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.4 |
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| 瓷介微调可变电容器0210 |
外部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.2 |
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| 电阻网络0106 |
粒子碰撞噪声检测（适用于密封空腔结构） |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3 |
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