| 电磁干扰（EMI）低通馈通滤波器(0401) |
制样镜检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.5 |
咨询
|
| 微动开关(0501) |
外部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.2 |
咨询
|
| 微动开关(0501) |
密封 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3 |
咨询
|
| 微动开关(0501) |
内部气体成份分析 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.4 |
咨询
|
| 微动开关(0501) |
内部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.5 |
咨询
|
| 低频电连接器(0601) |
外部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.2 |
咨询
|
| 低频电连接器(0601) |
X射线检查 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3 |
咨询
|
| 低频电连接器(0601) |
密封 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.4 |
咨询
|
| 金属化塑料膜介质电容器0204 |
外部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.2 |
咨询
|
| 金属化塑料膜介质电容器0204 |
密封（对密封电容器） |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3 |
咨询
|