髋臼部件和双极头中超高分子量聚乙烯（UHMWPE）的厚度检测实验

厚度

简介

镀层/涂层厚度简介厚度是衡量电镀层/涂层品质的重要指标之一，它直接影响镀件的耐蚀性、装配导电性以至产品的可靠性。镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。镀层厚度检测方法镀层厚度测定方法分无损法和破坏法。镀层厚度无损检测方法包括重量法、磁性法、涡流法，射线反射法，x 射线荧光法、机械量具法等; 镀层厚度破坏检测方法包括...查看详情>>

厚度

简介

镀层/涂层厚度简介
厚度是衡量电镀层/涂层品质的重要指标之一，它直接影响镀件的耐蚀性、装配导电性以至产品的可靠性。镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。

镀层厚度检测方法
镀层厚度测定方法分无损法和破坏法。
镀层厚度无损检测方法包括重量法、磁性法、涡流法，射线反射法，x 射线荧光法、机械量具法等;
镀层厚度破坏检测方法包括溶解法、液流法、点滴法、库仑法、金相显微镜法、轮廓仪法、干涉显微镜法等。
这些测量方法都有各自的特点和局限性，很准相互取代。但磁性法应用最广

镀层厚度相关标准
GB/T 30857-2014 蓝宝石衬底片厚度及厚度变化测试方法
GB/T 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
GB/T 4893.5-2013 家具表面漆膜理化性能试验第5部分：厚度测定法
GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试自动非接触扫描法
GB/T 11374-2012 热喷涂涂层厚度的无损测量方法
GB/T 28122-2011 液晶显示器（LCD）用聚乙烯醇（PVA）膜厚度测定方法
GB/T 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
GB/T 25451-2010 重水堆核电厂燃料元件涂层厚度测量β射线背散射法
GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
GB/T 25276-2010 液晶显示器（LCD）用三醋酸纤维素酯（TAC）膜厚度测定方法
GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 24328.2-2009 卫生纸及其制品第2部分：厚度、层积厚度和表观密度的测定
GB/T 13761.1-2009 土工合成材料规定压力下厚度的测定第1部分：单层产品厚度的测定方法
GB/T 24218.2-2009 纺织品非织造布试验方法第2部分：厚度的测定
GB/T 23886-2009 珍珠珠层厚度测定方法光学相干层析法
GB/T 3690-2009 织物芯输送带全厚度拉伸强度、拉断伸长率和参考力伸长率试验方法
GB/T 13960.4-2009 可移式电动工具的安全第二部分：平刨和厚度刨的专用要求
GB/T 23285-2009 缩微摄影技术开窗卡增厚区厚度的测量方法
GB/T 22889-2008 皮革物理和机械试验表面涂层厚度的测定
GB/T 22638.1-2008 铝箔试验方法第1部分：厚度的测定重量法
GB/T 2951.11-2008 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法第11部分：通用试验方法厚度和外形尺寸测量机械性能试验
GB/T 13452.2-2008 色漆和清漆漆膜厚度的测定
GB/T 328.4-2007 建筑防水卷材试验方法第4部分：沥青防水卷材厚度、单位面积质量
GB/T 328.5-2007 建筑防水卷材试验方法第5部分：高分子防水卷材厚度、单位面积质量
GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
GB/T 8758-2006 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法
GB/T 20220-2006 塑料薄膜和薄片样品平均厚度，卷平均厚度及单位质量面积的测定称量法（称量厚度）
GB/T 16921-2005 金属覆盖层覆盖层厚度测量 X射线光谱法
GB/T 20018-2005 金属与非金属覆盖层覆盖层厚度测量 β射线背散射法
GB/T 11378-2005 金属覆盖层覆盖层厚度测量轮廓仪法
GB/T 451.3-2002 纸和纸板厚度的测定
GB/T 12334-2001 金属和其他非有机覆盖层关于厚度测量的定义和一般规则
GB/T 17722-1999 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
GB/T 17598-1998 土工布多层产品中单层厚度的测定
GB/T 3820-1997 纺织品和纺织制品厚度的测定
GB/T 15717-1995 真空金属镀层厚度测试方法电阻法
GB/T 13744-1992 磁性和非磁性基体上镍电镀层厚度的测量

检测项目

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深圳中航技术检测所

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检测项：定位精度和重复定位精度检测样品：弹簧冲击锤标准：GB17421.2-2000机床检验通则第2部分: 数控轴线的定位精度和重复定位精度的确定

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浙江长华汽车零部件有限公司实验室

检测项：镀层测厚检测样品：螺母标准：金属覆盖层覆盖层厚度测量 X射线光谱方法 GB/T16921-2005

检测项：镀层测厚检测样品：螺母标准：金属覆盖层覆盖层厚度测量 X射线光谱方法GB/T16921-2005

检测项：镀层测厚检测样品：螺母标准：金属覆盖层覆盖层厚度测量 X射线光谱方法 GB/T16921-2005

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富奥汽车零部件股份有限公司紧固件分公司检测中心

检测项：镀层测厚检测样品：紧固件标准：金属覆盖层覆盖层厚度测量 X射线光谱方法 GB/T 16921-2005

检测项：镀层测厚检测样品：紧固件标准：磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法 GB/T 4956-2003

检测项：机械性能检测样品：紧固件标准：紧固件机械性能螺栓、螺钉和螺柱GB/T 3098.1-2010

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北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：反向击穿电压V(BR) 检测样品：双极型晶体管标准：GB/T4587-1994半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管

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检测项：稳压管动态电阻rz 检测样品：双极型晶体管标准：GB/T4587-1994半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：稳压管动态电阻检测样品：双极型晶体管标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管第Ⅳ章通用测试方法

检测项：集电极-基极截止电流检测样品：双极型晶体管标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管第Ⅳ章通用测试方法

检测项：稳压管动态电阻检测样品：双极型晶体管标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管第Ⅳ章通用测试方法

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成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：反向漏电流检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997

检测项：稳压管工作电压检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997

检测项：稳压管动态电阻检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输入二极管正向电压检测样品：双极型晶体管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管》GB/T4587-1994

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检测项：电流传输比检测样品：双极型晶体管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管》GB/T4587-1994

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西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：集电极-发射极饱和电压Vces 检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：基极-发射极饱和电压Vbes 检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3011

检测项：放大倍数HFE 检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3011

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河南联塑实业有限公司质量检测中心

检测项：部分参数检测样品：PE双壁波纹管材标准：埋地用聚乙烯(PE)结构壁管道系统第1部分：聚乙烯双壁波纹管材 GB/T19472.1-2004

检测项：部分参数检测样品：冷热水用耐热聚乙烯(PE-RT)管材标准：冷热水用耐热聚乙烯（PE-RT）管道系统第2部分：管材 GB/T 28799.2-2012

检测项：部分参数检测样品：燃气用埋地聚乙烯(PE)管材标准：燃气用埋地聚乙烯(PE)管道系统第一部分：管材 GB 15558.1-2003

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厦门建霖工业有限公司实验室

检测项：色漆涂层干膜厚度检测样品：标准：应用于黑色金属的无磁涂层和应用于有色金属的无磁和不导电涂层的干膜厚度的无损测量的标准实施规程 ASTM D7091-05

检测项：色漆涂层干膜厚度检测样品：涂、镀层表面标准：应用于黑色金属的无磁涂层和应用于有色金属的无磁和不导电涂层的干膜厚度的无损测量的标准实施规程 ASTM D7091-12

检测项：电位差检测样品：标准：多镍沉积层中的单一层的同步厚度和电化学电位测试标准方法 ASTM B764-04（2009）

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