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电子射野成像系统产品描述:通常由正对于治疗射线束的射线探测单元、相关软件等组成。 电子射野成像系统预期用途:配合外照射设备,通过采集射野图像,主要用于患者在放射治疗中的引导和位置验证。 电子射野成像系统品名举例:电子射野成像装置、实时影像动态验证系统 电子射野成像系统管理类别:Ⅲ 电子射野成像系统相关指导原则: 1、用于放射治疗...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月02日
检测项:辐射骚扰 检测样品:车载电子设备 (电磁兼容性) 标准:GB 17625.2-2007 电磁兼容 限值 对额定电流不大于16A的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限制
机构所在地:广东省深圳市
检测项:骚扰功率 检测样品:风机盘管机组 标准:电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007
机构所在地:浙江省宁波市
检测项:全项目 检测样品:电子电气产品 标准:GB 17625.2-2007:电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制
检测项:全项目 检测样品:电子电气产品 标准:GB 17625.2-2007:电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制
检测项:全项目 检测样品:电子电气产品 标准:IEC 61000-3-3-2008 电磁兼容性(EMC).第3部分:限值.第3节:额定电流小于等于16A设备的低压供电系统中电压波动极限值
机构所在地:广东省江门市
检测项:输出短路电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输出短路电流 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项:输出短路电流 检测样品:光电耦合器 标准:GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分 SJ 2215-8
机构所在地:湖北省宜昌市