浙江省计量科学研究院/浙江省方正校准有限公司

检测项：最大输出电平 检测样品：有线数字电视广播QAM调制器 标准：有线数字电视广播QAM调制器技术要求和测量方法 GY/T 198-2003

检测项：最大输出电平 检测样品：交流电测量设备（通用要求） 标准：交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分:测量设备 GB/T 17215.211-2006 交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分:测量设备 IEC 62052-11：2003 交流电测量设备-第1部分：通用要求，试

检测项：输出端反射损耗 检测样品：有线数字电视广播QAM调制器 标准：有线数字电视广播QAM调制器技术要求和测量方法 GY/T 198-2003

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

湖南航天管理局计量检测中心

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：DC/DC模块 标准：SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：DC/DC模块 标准：SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：高电平输出电流IOH 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

天津市产品质量监督检测技术研究院

检测项：部分参数 检测样品：商用多用途电平锅 标准：家用和类似用途电器的安全 商用多用途电平锅的特殊要求 GB4706.40-2008 IEC60335-2-39：2004

检测项：全部参数 检测样品：额定电压1kV及以下架空绝缘电缆 标准：额定电压1kV及以下架空绝缘电缆 GB/T12527-2008

检测项：部分参数 检测样品：额定电压10kV架空绝缘电缆 标准：额定电压10kV架空绝缘电缆 GB/T14049-2008

机构所在地：天津市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：1dB压缩点输入功率电平、1dB压缩点输出功率电平 检测样品：场效应晶体管 标准：1、GB/T 4586-1994 半导体器件第8部分：场效应晶体管 2、GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件

检测项：输出高电平VOH 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

检测项：输出低电平VOL 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

中国工程物理研究院计量测试中心

检测项：载波输出幅度范围内最大额定输出幅度的工作误差 检测样品：信号发生器 标准：GB/T 12115-1989 高频信号发生器测试方法

检测项：载波输出幅度范围内最大额定输出幅度的工作误差 检测样品：频谱分析仪 标准：GB 11462-1989 《频谱分析仪测试方法 》

检测项：阈值（门限电平） 检测样品：逻辑分析仪 标准：GB/T 15471-1995 《逻辑分析仪通用技术条件和测试方法》

机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>

上海电缆研究所检测中心

检测项：部分项目 检测样品：射频电缆 标准：射频电缆 第1部分：总规范　总则、定义、要求和试验方法 GB/T 17737.1-2000

检测项：全部项目 检测样品：额定电压450/750V及以下热塑性绝缘电线电缆 标准：额定电压450/750V及以下热塑性绝缘电线电缆 第1部分：一般要求

检测项：全部项目 检测样品：额定电压450/750V及以下热固性绝缘电线电缆 标准：额定电压450/750V及以下橡皮绝缘软线和软电缆 JB/T8735.3-2011

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：输出高电平电压 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理

检测项：输出低电平电压 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理

机构所在地：湖北省宜昌市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出高电平电流 检测样品：TTL集成电路 标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998

检测项：输出低电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998 《半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理》SJ/T10741-2000

检测项：输出高电平电压 检测样品：CMOS集成电路 标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998 《半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理》SJ/T10741-2000

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

湖南省电子产品检测分析所/中国赛宝（湖南）实验室/湖南省软件评测中心

检测项：输入输出电平 检测样品：声频 功率 放大器※ 标准：声频放大器测量方法GB/T 12060.3-2011 声频功率放大器 通用技术条件 SJ/T 10406-1993

检测项：最大输出电平 检测样品：声频功率放大器 标准：声频放大器测量方法GB/T 12060.3-2011 声频功率放大器通用技术条件SJ/T 10406-1993

检测项：对应于额定失真限制的输出电压的最小源电动势 检测样品：声频功率放大器 标准：声频放大器测量方法GB/T 12060.3-2011 声频功率放大器通用技术条件SJ/T 10406-1993

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>