北京苏试创博环境可靠性技术有限公司环境与可靠性检测实验室

检测项：随机 振动 检测样品：运输 包装件 标准：GB/T 4857.23-2012 包装 运输包装件 随机振动试验方法

检测项：随机 振动 检测样品：运输 包装件 标准：GB/T 4857.23-2003 包装 运输包装件 随机振动试验方法

检测项：振动 检测样品：电工电子产品与军用设备 标准：GB/T2423.56-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fh ：宽带随机振动 (数字控制)和导则

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

亚立斯检测（苏州）有限公司

检测项：随机振动 检测样品： 标准：包装 运输包装件 随机振动试验方法 GB/T 4857.23-2012

检测项：随机振动 检测样品：运输 包装件 标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fh：宽带随机振动（数字控制）和导则GB/T2423.56-2006

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苏州泰斯特测控科技有限公司

检测项：随机振动 检测样品：运输包装件 标准：包装运输包装件基本试验第23部分：随机振动试验方法 GB/T4857.23-2012

检测项：振动 检测样品：电工电子产品与军用设备 标准：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fh：宽带随机振动(数字控制)和导则 GB/T2423.56-2006 环境试验.第2-64部分:试验.试验Fh:振动、宽带随机(数控)和指南 IEC 60068-2-64-2008

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

上海出入境检验检疫局工业品与原材料检测技术中心

检测项：随机振动 检测样品：运输包装件 标准：包装 运输包装件 随机振动试验方法

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：采样-保持失调电压VOS 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：静态参数 检测样品：MOS随机存储器 标准：半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996

检测项：动态参数 检测样品：MOS随机存储器 标准：半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996

检测项：静态参数 检测样品：双极性随机存储器 标准：半导体集成电路双极型随机存储器器测试方法的基本原理 SJ/T 10740-1996

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

深圳市安姆特检测技术有限公司昆山分公司

检测项：集装箱运输的随机振动 检测样品：电工电子产品 标准：标准集装箱的运输随机振动的测试方法 ASTM D 4728-2006

检测项：随机振动 检测样品：电工电子产品 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动（数字控制）和导则 GB/T 2423.56-2006

检测项：包装 随机振动试验方法 检测样品：电工电子产品 标准：包装 运输包装件 随机振动试验方法 GB/T 4857.23-2003

机构所在地：江苏省昆山市 更多相关信息>>

苏州长菱测试技术有限公司

检测项：随机振动 检测样品：运输包装件 标准：GB/T4857.23-2003 包装运输包装件随机振动试验方法 modASTM4827-1995

检测项：提高随机振动量级的模拟长寿命试验 检测样品：铁路机车车辆设备及部件 标准：GB/T 21563-2008/ IEC61373:2010 轨道交通 机车车辆设备冲击和振动试验

检测项：振动 检测样品：电工电子产品与军用设备 标准：GB/T2423.56-2006/IEC 60068-2-64-2008 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fh ：宽带随机振动(数字控制)和导则

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

广州机场出入境检验检疫局综合技术服务中心综合实验室

检测项：梅毒抗体 检测样品：人全血 标准：中华人民共和国卫生部医政司 《全国临床检验操作规程》（第三版）2006年.第五篇第五章第十八节，一、甲苯胺红不加热血清试验（TRUST），三、密螺旋体颗粒凝集试验（TPPA）测定梅毒螺旋体抗体

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：低温低气压 检测样品： 标准：GB/T2423.25-2008电工电子产品环境试验，第2部分 试验Z/AM

检测项：高温低气压 检测样品： 标准：GB/T2423.26-2008电工电子产品环境试验，第2部分 试验Z/BM

检测项：低气压(高度)试验 检测样品：电子元器件(气候试验) 标准：1.GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序，方法1001 2.GJB360B-2009电子及电气元件试验方法，方法105 3.GJB150.2A-2009军用设备环境环境试验方法，第2部分 4.GJB128A-1997半导体分立器件试验方法

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