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电子元器件(气候试验)中低气压(高度)试验检测

  • 样品名称:电子元器件(气候试验)

  • 检测项目:低气压(高度)试验

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:1.GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序,方法1001 2.GJB360B-2009电子及电气元件试验方法,方法105 3.GJB150.2A-2009军用设备环境环境试验方法,第2部分 4.GJB128A-1997半导体分立器件试验方法

  • 所属行业分类:电子电气 > 环境试验 >

  • 标签: 低气压(高度)试验 电子元器件(气候试验)

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