深圳市射频智能科技有限公司

检测项：浪涌（冲击）抗扰度试验 检测样品：信息技术 设备 标准：GB/T 17626.5-2008 浪涌（冲击）抗扰度试验

检测项：浪涌（冲击）抗扰度试验 检测样品：信息技术 设备 标准：GB/T 17626.5-2008 浪涌（冲击）抗扰度试验

检测项：脉冲磁场 检测样品：信息技术 设备 标准：GB/T 17626.9-1998 脉冲磁场抗扰度试验

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

东莞市凯威检测技术有限公司

检测项：浪涌（冲击） 检测样品：电子电器设备(额定电流不大于16A) 标准：电磁兼容试验和测量技术 浪涌（冲击）抗扰度试验 GB/T 17626.5-2008 IEC 61000-4-5:2005 EN 61000-4-5:2006

检测项：浪涌 检测样品：电子电器设备(额定电流不大于16A) 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2005+A1:2008+A2:2009 EN 61000-3-2:2006+A1:2009+A2:2009

检测项：谐波电流 检测样品：电子电器设备(额定电流不大于16A) 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2012

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>

北京科星瑞特电磁兼容工程技术有限公司电磁兼容实验室

检测项：浪涌（冲击）抗扰度 检测样品：电子和电气产品、信息设备及工、科、医类设备 标准：电磁兼容试验和测量技术 浪涌（冲击）抗扰度试验 GB/T 17626.5-2008

检测项：浪涌（冲击）抗扰度 检测样品：电子和电气产品、信息设备及工、科、医类设备 标准：电磁兼容试验和测量技术 浪涌（冲击）抗扰度试验 GB/T 17626.5-2008

检测项：浪涌（冲击）抗扰度 检测样品：电子和电气产品、信息设备及工、科、医类设备 标准：信息技术设备抗扰度限值和测量方法 CISPR 24：2001

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：断态电流 检测样品：光耦合器 标准：半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法 SJ 2215.2-1982

检测项：静态漏-源通态电阻 检测样品：场效应 晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

检测项：静态漏-源通态电压 检测样品：场效应 晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3021

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3020

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：电子元器件 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.14条

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输出高阻态电流(IOZ) 检测样品：DC/DC变换器 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法　SJ20646-97

检测项：漏源通态电阻（rDS(on)） 检测样品：场效应管 标准：半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

检测项：漏源通态电压（VDS(on)） 检测样品：光电 耦合器 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分 双极型晶体管 GB/T 4587-94 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 半导体分

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：电子产品、军用装备 标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦）

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：电子产品、军用装备 标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦）

检测项：发射极-基极截止电流 检测样品：双极型晶体管 标准：GB/T 4587-1994 半导体器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管

机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>

佛山市沃特测试技术服务有限公司

检测项：潮态后泄漏电流和耐压测试 检测样品：保温盘、液体加热器、烘箱、浸入式加热器、电烙铁 标准：UL499:2012 电热器具的标准

检测项：潮态测试 检测样品：电风扇 标准：UL507:2010 电风扇标准

检测项：潮态测试 检测样品：家庭个人修饰用电器 标准：UL859:2010 家庭个人修饰用电器标准

机构所在地：广东省佛山市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：TTL 电路测试 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：TTL 电路测试 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>