输出短路检测实验

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：TTL 电路测试标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：微电子器件标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：TTL 电路测试标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 （GB 3439-1982）

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：模拟开关/多路器系列集成电路标准：GB/T14028-92《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

深圳市冠准科技有限公司

检测项：输出短路测试检测样品：测量、控制和实验室用电气设备标准：《测量、控制和实验室用电气设备的安全要求.第1部分:一般要求》 GB 4793.1-2007 IEC 61010-1:2001 EN 61010-1:2001 IEC 61010-1:2010 EN 61010-1:2010

检测项：输入功率和输出功率检测样品：外置电源标准：GB 20943-2007 《单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源能效限定值及节能评价》

检测项：输入功率和输出功率检测样品：外置电源标准：《单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源能效限定值及节能评价》 GB 20943-2007

机构所在地：广东省深圳市更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出短路电流检测样品：CMOS集成电路标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998 《半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理》SJ/T10741-2000

检测项：输出漏电流检测样品：时基电路标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：输出高电平电流检测样品：TTL集成电路标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998

机构所在地：江苏省扬州市更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：漏--源短路时的栅极截止电流IGSS 检测样品：晶体二极管标准：GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》

检测项：小信号短路正向跨导gfs 检测样品：晶体二极管标准：GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》

机构所在地：北京市更多相关信息>>

检测项：输出短路电流检测样品：运算 (电压)放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996第2.1、2.3、2.5、2.6、2.7、2.8、2.11条

检测项：输出短路电流检测样品：CMOS 集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条