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检测项：输入高电平电流和输入低电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项：输入高电平电流和输入低电平电流 检测样品：RF器件 标准：半导体器件 集成电路 第2部分： 数字集成电路 GB/T 17574-1998
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检测项：输入高电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
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检测项：输入高电平电流 检测样品：TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项：输入高电平电流Iih 检测样品：DC/DC模块 标准：SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
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检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》
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检测项：输入高电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
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检测项：输入高电平电流 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项：输入高电平电流 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项：输入高电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 第5.2节
机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>
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检测项：输入高电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
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检测项：输入失调电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项：输入偏置电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
