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脑电图机产品描述: 通常由脑电电极、脑电导线、放大器、显示单元、主机等部分组成。用于脑电信号的提取、放大、滤波、记录、分析、回放等。 脑电图机预期用途: 用于对患者精神性疾病和脑部实质性病变的分析诊断、脑部功能状态评估。 脑电图机品名举例: 脑电图机、动态脑电记录仪、动态脑电图工作站、动态脑电图机、脑电地形图仪、三维脑电地形图仪、数字脑电地形图...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月16日
检测项:触发电流 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992
检测项:触发电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992
检测项:电流调整率和电流稳定系数 检测样品:半导体集成电路电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:触发电流 检测样品:电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第
检测项:门极触发电流 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T15291-1994 第5.1.2 、5.1.5 、5.1.6、 5.1.7条
检测项:触发电压 检测样品:电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:触发电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:触发电压 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输入高电平电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:栅极触发电流 检测样品:晶闸管 标准:半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法4221.1
检测项:栅极触发电压 检测样品:晶闸管 标准:半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法4221.1
检测项:漏极反向电流 检测样品:功率金属氧化物场效应管 标准:半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750E 2006 方法3415.1
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:控制极触发电流 检测样品:双极型晶体管 标准:GB/T4587-1994半导体器件分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管
检测项:控制极触发电压 检测样品:双极型晶体管 标准:GB/T4587-1994半导体器件分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管
检测项:输入失调电流 检测样品:电压比较器 标准:SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:门极触发电流和(或)电压(IGT、VGT) 检测样品:运算放大器 标准:GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》
检测项:全项目 检测样品:电子产品接触电流 标准:GB/T 12113-2003 接触电流和保护导体电流的测量方法 IEC 60990:1999 接触电流和保护导体电流的测量方法
检测项:谐波电流 检测样品:低压电气及电子设备(EMC) 标准:GB17625.1-2003 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流<=16A) IEC61000-3-2:2001 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流<=16A) AS/NZS 61000.3.2:2003电磁兼容 限值 谐波
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:触发电流 检测样品:时基 电路 标准:半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条
检测项:门极触发电流 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T15291-1994 第5.1.2、5.1.5、5.1.6、5.1.7条
检测项:触发电流 检测样品:电压 调整器 标准:半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 第4.1、4.2、4.7、4.10条
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:触发电流 检测样品:模拟集成电路 标准:GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压
检测项:触发电压 检测样品:模拟集成电路 标准:GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压
检测项:触发电压 检测样品:放电灯(荧光灯除外)用直流或交流电子镇流器 标准:灯的控制装置 第13 部分:放电灯(荧光灯除外)用直流或交流电子镇流器的特殊要求 GB19510.13-2007
检测项:触发电压 检测样品:LED模块用直流或交流电子控制装置 标准:灯的控制装置 第14部分:LED模块用直流或交流电子控制装置的特殊要求 GB19510.14-2009
检测项:接触电流 检测样品: 标准:接触电流和保护导体电流的测量方法 GB12113-2003 IEC60990:1999 EN 60990:1999
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:触发电压 检测样品:灯的控制装置:放电灯用直流或交流电子镇流器 标准:《控制装置.放电灯用直流或交流电子镇流器的特殊要求(荧光灯除外)》
检测项:直流电流监控 检测样品:发电系统连接低压分布网络 标准:《发电系统连接低压分布网络,连接和并网到电压分布网络的技术最小要求》 VDE-AR-N 4105:2011-08
检测项:故障电流监控 检测样品:发电系统连接低压分布网络 标准:《发电系统连接低压分布网络,连接和并网到电压分布网络的技术最小要求》 VDE-AR-N 4105:2011-08
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>