上海玻璃钢研究院有限公司检测中心

检测项：失效方式 检测样品：玻璃纤维增强聚酯波纹板 标准：胶粘剂 主要失效方式的命名 ISO 10365-1992

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

成都泰瑞通信设备检测有限公司

检测项：业务承载方式和性能指标要求 检测样品：无源光网络EPON 标准：YD/T 1531-2006 接入网设备测试方法——基于以太网方式的无源光网络( EPON)

检测项：触发进程的发现 检测样品：软交换设备 标准：ITU-T G.7714 通用自动发现技术

检测项：WDM环网保护倒换方式准则和时间测试 检测样品：城市WDM环网设备 标准：YD/T 1339-2005 城市光传送网波分复用（WDM）环网测试方法

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

飞利浦电子技术（上海）有限公司飞利浦照明电器检测中心

检测项：部分参数 检测样品：高压钠灯 标准：高压钠灯 GB/T 13259-2005

检测项：部分参数 检测样品：高压钠灯 标准：高压钠灯性能标准 IEC 60662-2011

检测项：部分参数 检测样品： 标准：金属卤化物灯（钠铊铟系列）性能要求 GB/T 24333-2009

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

北京市特种设备检测中心

检测项：提拉触发力 检测样品：施工升降机防坠器 标准：《施工升降机齿轮锥鼓形渐进式防坠安全器》JG121-2000

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：门极触发电流Igt 检测样品：晶闸管 标准：GB∕T 15291-1994半导体器件 第6部分：晶闸管

检测项：门极触发电压Vgt 检测样品：半导体集成电路（运算放大器） 标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

国家电光源质量监督检验中心（北京）

检测项：安全/全部参数 检测样品：霓虹灯变压器 标准：QB/T 1115-1991高压钠灯用电子触发器

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

南阳市爆炸与火灾安全防范重点实验室

检测项：电路中有触发器的镇流器试验 检测样品：“n”型电气设备 标准：GB3836.8-2003爆炸性气体用电气设备 无火花型电气设备“n”

检测项：电路中有触发器的镇流器试验 检测样品：“n”型电气设备 标准：IEC60079-15:2010爆炸性气体环境用电气设备 第15部分：“n”型电气设备

检测项：触发器 检测样品：防爆灯具、灯具 标准：GB7000.1-2007灯具 第1部分：一般要求与试验

机构所在地：河南省南阳市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：触发电流 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：触发电压 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：触发电压VTR 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》

检测项：触发电流ITR 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T14029-1992 《半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：控制极触发电流的最大值IGT 检测样品：闸流晶体管 标准：GB/T 15291-1994 半导体器件 第6部分：晶闸管

检测项：控制极触发电压的最大值VGT 检测样品：闸流晶体管 标准：GB/T 15291-1994 半导体器件 第6部分：晶闸管

检测项：控制极触发电流的最大值IGT 检测样品：半导体分立器件外壳 标准：1、GJB 923A-2004 半导体分立器件外壳通用规范 2、SJ 20129-1992 金属镀覆层厚度测量方法 3、GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>