爱斯佩克测试科技（上海）有限公司

检测项：稳态湿热偏置寿命试验 检测样品：电子器件 标准：稳态湿热偏置寿命试验 JESD22-A101C:2009

检测项：高温存储寿命试验 检测样品：电子器件 标准：高温存储寿命试验 JESD22-A103D:2010

检测项：温度偏置工作寿命试验 检测样品：印刷电路板 标准：温度偏置工作寿命试验 JESD22-A108D:2010

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：电功率老炼 检测样品：元器件筛选 标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB548B-2005/GJB548A-1996微电子器件试验方法和程序 GJB360B-2009/GJB360A-1996 电子及电气元件试验方法 GJB150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

检测项：老炼试验 检测样品：功率金属氧化物场效应管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1042

检测项：稳态寿命试验 检测样品：功率金属氧化物场效应管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1042

检测项：高温湿热试验 检测样品：分立器件 标准：高温湿热稳态寿命试验（Steady State Temperature Humidity Bias Life Test） JESD22 Method A101C-2009

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：老炼 检测样品：半导体集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范 （不包括混合电路） GB/T12750-2006

检测项：稳态湿热 检测样品：电工电子产品 标准：半导体器件 机械和气候试验方法 第5部分：稳态温湿度偏置寿命试验 GB/T4937.5-2006

检测项：稳态湿热 检测样品：电工电子产品 标准：环境试验 第2部分： 试验方法 试验 Z/AD：温度/湿度组合循环试验 GB/T2423.34-2012

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：老炼试验 检测样品：钽电容器 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：老炼试验 检测样品：电子设备、产品 标准：有可靠性指标的固体电解质钽电容总规范 GJB63B-2001

检测项：老炼试验 检测样品：钽电容器 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：功率老炼 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：老化 检测样品：数控机床 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1015.1 老炼试验； 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 方法1038、1039、1040、1042 半导体

检测项：稳态功率 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：老炼试验 检测样品：半导体集成 电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：老炼试验 检测样品：电位器 标准：非线绕预调电位器总规范GJB918-1990 线绕预调电位器总规范 GJB917－1990

检测项：稳态工作功率 检测样品：二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：老炼试验 检测样品：电阻器 标准：GJB360A-1996电子及电气元件测试方法

检测项：老炼试验 检测样品：闸流晶体管 标准：SJ/Z9014.3-1987半导体器件 分立器件和集成电路 第６部分：闸流晶体管

检测项：高温寿命试验 检测样品：非电解电容器 标准：GJB360A-1996电子及电气元件测试方法

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

浙江三花股份有限公司计量测试中心

检测项：寿命 检测样品：双稳态电磁阀 标准：小型制冷系统用双稳态电磁阀JB/T 8053-2011

检测项：寿命 检测样品：双稳态电磁阀 标准：小型制冷系统用双稳态电磁阀 JB/T 8053-2011

检测项：冷热冲击 检测样品：双稳态电磁阀 标准：小型制冷系统用双稳态电磁阀JB/T 8053-2011

机构所在地： 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：老炼试验 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法和程序　 GJB548B-2005 方法1015.1 微电路测试方法 MIL-STD-883H：2010 方法1015.10

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