中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输出低电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：低到高电平输出的传输延迟时间 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

广州海关化验中心

检测项：初级形状线性低密度聚乙烯的鉴别 检测样品：初级形状线性低密度聚乙烯 标准：初级形状线性低密度聚乙烯的鉴别方法 HS/T 10-2006

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

中捷通信有限公司检测校准中心

检测项：自动电平控制（ALC） 检测样品： 标准：

检测项：输入/输出电压驻波比 检测样品： 标准：

检测项：标称最大输出功率 检测样品：CDMA直放站 标准：800MHz/2GHz CDMA数字蜂窝移动通信网 模拟直放站技术要求和测试方法 YD/T 1596-2011

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

中国工程物理研究院计量测试中心

检测项：阈值（门限电平） 检测样品：逻辑分析仪 标准：GB/T 15471-1995 《逻辑分析仪通用技术条件和测试方法》

检测项：非线性 检测样品：电子台案秤 标准：GB/T 7722-2005 《电子台案秤》

检测项：直流电压功能线性度 检测样品：数字多用表 校准仪 标准：GＢ/T 15637-1995 数字多用表校准仪通用技术条件

机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：静态参数 检测样品：电平转换器 标准：半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T 10804-2000

检测项：动态参数 检测样品：电平转换器 标准：半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T 10804-2000

检测项：功能 检测样品：电平转换器 标准：半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T 10804-2000

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

嘉善云瑞检测服务有限公司

检测项：线性尺寸 检测样品：缓冲材料 标准：

机构所在地： 更多相关信息>>

吉林省医疗器械检验所

检测项：线性 检测样品： 标准：

检测项：线性 检测样品：全自动凝血分析仪 标准：YY/T0659-2008《全自动凝血分析仪》

检测项：线性 检测样品：全自动凝血分析仪 标准：YY/T0659-2008《全自动凝血分析仪》

机构所在地：吉林省长春市 更多相关信息>>

西安电子工程研究所校准实验室

检测项：反射电平 检测样品：微波暗室 标准：微波暗室性能测试方法 GJB 6780-2009

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

北京无线电计量测试研究所

检测项：调谐电平 检测样品：扫频信号发生器 标准：扫频信号发生器测试方法 GB/T13184-1991

检测项：平均噪声电平 检测样品：频谱分析仪 标准：频谱分析仪测试方法 GB11462-1989

检测项：平均噪声电平 检测样品：调制度分析仪 标准：调制分析仪通用规范 SJ20493-1995

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海市软件评测中心有限公司

检测项：等电平远端串音 检测样品： 标准：

检测项：等电平远端串音功率和 检测样品： 标准：

机构所在地：上海市 更多相关信息>>