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YY/T 0879.1-2013医疗器械致敏反应试验 第1部分:小鼠局部淋巴结试验(LLNA) 放射性同位素掺入法 YY/T 0879.2-2015医疗器械致敏反应试验 第2部分:小鼠局部淋巴结试验(LLNA)BrdU-ELISA法 查看详情>>
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检测项:评定变色 检测样品:纺织品 标准:纺织品 色牢度试验 评定变色用灰色样卡 GB/T 250-2008
检测项:评定变色 检测样品:纺织品 标准:儿童上身外衣拉带安全规格ASTM F 1816-97(2009)
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:热变色性 检测样品:石英玻璃制品 标准:《石英玻璃热变色性试验方法》 GB/T 4121-1983
检测项:冲击试验 检测样品:元器件、设备温度变化试验 标准:环境试验 第2部分:试验方法 试验N :温度变化 GB/T 2423.22-2012
检测项:硬度试验 检测样品:元器件、设备温度变化试验 标准:环境试验 第2部分:试验方法 试验N :温度变化 GB/T 2423.22-2012
机构所在地:江苏省连云港市 更多相关信息>>
检测项:电性能参数测量及特性曲线 检测样品:二极管 LED 标准:GJB128A-97半导体分立器件试验方法
检测项:电性能参数及特性曲线 检测样品:三极管 标准:GJB128A-97半导体分立器件试验方法
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:电性能 检测样品:射频器件 标准:YD/T 640-2012《通信设备用射频连接器技术要求及检测方法》
检测项:射频性能 检测样品:射频器件 标准:YD/T 640-2012《通信设备用射频连接器技术要求及检测方法》
检测项:元器件的要求 检测样品:电信终端设备(安全) 标准:YDT965-1998 《电信终端设备的安全要求和试验方法》
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:电性能测试 检测样品:电子电工产品 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
检测项:电性能测试 检测样品:PCBA 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
检测项:荷电保持能力 检测样品:发光二极管 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 物理尺寸 JESD22-B100B
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:高温试验 检测样品:电子器件 标准:温度湿度偏置循环寿命测试 JESD22-A100C:2007
检测项:交变湿热试验 检测样品:电子器件 标准:温度湿度偏置循环寿命测试 JESD22-A100C:2007
检测项:盐雾试验 检测样品:电子器件 标准:温度湿度偏置循环寿命测试 JESD22-A100C:2007
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:电寿命试验 检测样品:集成电路 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范(不包括混合电路) GB/12750-2006
检测项:耐久性 检测样品:半导体分立器件 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009
检测项:干热 检测样品:半导体分立器件 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009
检测项:晶体管电特性测试 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
检测项:二极管电特性测试 检测样品:二极管 标准:半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
检测项:绝缘电阻 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
机构所在地:贵州省遵义市 更多相关信息>>
检测项:高压蒸煮试验 检测样品:电子元器件 标准:加速耐湿性试验-不加电蒸煮 JESD22-A102D:2010
检测项:高低温循环试验 检测样品:电子元器件 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1051
检测项:高温试验 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1008.1
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:疵点 检测样品:检测参数 标准:试样变色程度的 仪器评级方法FZ/T 01024-1993
检测项:耐光色牢度 检测样品:检测参数 标准:色牢度试验 光致变色的检验和评定试验方法GB/T 8431-1998 ISO 105B05-1993
检测项:色差 检测样品:检测参数 标准:评定变色用灰色样卡GB 250-2008 ISO 105A02-1993