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检测项:VF-正向电压 检测样品:整流二极管 标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 IEC 60747-2(第二版 2000-03)
检测项:VFM: 正向峰值電壓 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)
检测项:电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 检测样品:电子电气设备 标准:GB/T 17626.11-2008 IEC 61000-4-11:2004 EN61000-4-11:2004 电磁兼容试验和测量技术 电压暂降,短时中断和电压变化的抗扰度试验
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检测项:正向电压VF 检测样品:二极管 标准:半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995
检测项:反向电压VR 检测样品:二极管 标准:半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995
检测项:正向电流传输比HFE 检测样品:三端稳压电源(电压调整器) 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:正向电压(VF) 检测样品:二极管 标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T4023-1997 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T6571-1995
检测项:正向压降 (VF ) 检测样品:电容器 标准:电子设备用固定电容器 第1部分:总规范 GB/T 2693-2001
检测项:正向栅源漏电流(IGSSF) 检测样品:光电 耦合器 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分 双极型晶体管 GB/T 4587-94 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 半导体分
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:正向直流电压VF 检测样品:二极管 标准:1.GB/T 4023-1997半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管; 2.GB/T 6571-1995半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管;
检测项:正向跨导gfs 检测样品:光耦合器 标准:1.GB/T15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法 2.GB12565-1990半导体器件光电子器件分规范
检测项:正向栅源漏电流Igssf 检测样品:光耦合器 标准:1.GB/T15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法 2.GB12565-1990半导体器件光电子器件分规范
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:正向电压 检测样品: 标准:
检测项:正向电流 检测样品: 标准:
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:正向电压VFL、正向电压VFL-正向电流IFL曲线的测试 检测样品:2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件 标准:光通信用高速半导体激光器组件技术条件 第1部分:2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件 YD/T 1687.1-2007
检测项:正向电压VFL、正向电压VFL-正向电流IFL曲线的测试 检测样品:2.5Gb/s无致冷型直接调制半导体激光器组件 标准:光通信用高速半导体激光器组件技术条件 第2部分:2.5Gb/s无致冷型直接调制半导体激光器组件 YD/T 1687.2-2007
检测项:阈值电流Ith、输出光功率P-正向电流IFL曲线的测试 检测样品:2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件 标准:光通信用高速半导体激光器组件技术条件 第1部分:2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件 YD/T 1687.1-2007
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:正向阈值电压下的输入电流 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项:共发射极正向电流传输比 检测样品:双极型晶体管 标准:GB/T4587-1994半导体器件分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管
检测项:正向压降 检测样品:开关二极管 标准:GB/T6571-1995第3部分信号(包括开关)和调整二极管
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:正向电压 检测样品:二极管 标准:半导体分立器件试验方法GJB128A-1997方法4011
检测项:正向电压 检测样品:二极管 标准:半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995半导体器件Ⅳ章1.2条
检测项:门极触发电压 检测样品:光耦合器 标准:半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法 SJ 2215.2-1982
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:正向电压 检测样品:二极管 标准:半导体器件分立器件和集成电路 第2部分 整流二极管 GB/T4023-1997
检测项:正向电压 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T15291-1994
检测项:电压调整率 检测样品:电压 调整器 标准:GB/T4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理
检测项:输入正向阈值电压VIT+ 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:正向电压 检测样品:二极管 标准:半导体分立器件试验方法GJB128A-1997 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管GB/T4023-1997
检测项:共发射极正向电流传输比的静态值 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管GB/T4587-1994