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检测项：额定输出电平和允差 检测样品：音频放大器/处理器 标准：广播声频通道技术指标测量方法 GB/T15943-1995
检测项：音频输出电平 检测样品：地面数字电视接收器 标准：地面数字电视接收器测量方法 GB/T26684-2011 地面数字电视接收器通用规范 GB/T26683-2011
检测项：线路输出最高电平 检测样品：调音台 标准：广播调音台电性能运行技术指标测量方法 GY/T76-1989， 电视中心播控系统数字播出通路技术指标和测量方法 GY/T165-2000
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：输入输出电平 检测样品：声频 功率 放大器※ 标准：声频放大器测量方法GB/T 12060.3-2011 声频功率放大器 通用技术条件 SJ/T 10406-1993
检测项：最大输出电平 检测样品：声频功率放大器 标准：声频放大器测量方法GB/T 12060.3-2011 声频功率放大器通用技术条件SJ/T 10406-1993
检测项：中频频率 检测样品：调频 广播 接收机※ 标准：调频广播接收机 测量方法 GB/T 6163-1985
机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项：最大输出电平 检测样品：有线数字电视广播QAM调制器 标准：GY/T198-2003《有线数字电视广播QAM调制器技术要求和测量方法》5.2
检测项：输出TS包格式 检测样品：普通照明灯泡 标准：(2)GY/T 230-2008《数字电视广播业务信息规范》
检测项：寄生输出抑制比 检测样品：有线数字电视广播QAM调制器 标准：GY/T198-2003《有线数字电视广播QAM调制器技术要求和测量方法》5.3
机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>
检测项：输出高电平电压（VOH） 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998
检测项：输出低电平电压（VOL） 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998
检测项：输入高电平电流(IIH) 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：输出高电平电压 检测样品：电子产品、军用装备 标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦）
检测项：输出低电平电压 检测样品：电子产品、军用装备 标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦）
检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：电子产品、军用装备 标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦）
机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：CMOS 电路测试 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项：输出高电平电流IOH 检测样品：TTL 电路测试 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
检测项：输出低电平电流IOL 检测样品：TTL 电路测试 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>
检测项：输出高电平电压 检测样品：TTL电路、COMS电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996 《半导体集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇第
检测项：输入高电平电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项：输入低电平电流 检测样品：TTL电路、COMS电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996 《半导体集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇第
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：全部项目 检测样品：中频感应加热装置用变压器 标准：JB/T3924-1999 中频感应加热装置用变压器
检测项：输出高电平电压Voh 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范
检测项：输出低电平电压Vol 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范
检测项：输出高电平VO H 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第
检测项：输出高电平 电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
检测项：输出低电平 电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
检测项：输出高电平 电流 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>
