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检测项:恒定加速试验 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:半导体分立器件试验方法 方法2006 恒定加速度 GJB128A-1997
检测项:耐腐蚀试验 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:微电子器件试验方法 方法2001.1恒定加速度GJB548B-2005
检测项:冲击 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:电工电子产品环境试验GB/T2423.3-2006 试验 Cab:恒定湿热试验方法
机构所在地:北京市
检测项:恒定加速度 检测样品:半导体分立器件 标准:《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997
检测项:恒定加速度 检测样品:微电子器件 标准:《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005
机构所在地:贵州省贵阳市
检测项:恒定加速度 检测样品:电子元器件试验 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2001.1条件A、B、C、D、E
检测项:恒定加速度 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
机构所在地:湖北省孝感市