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检测项:老炼(二极管、整流管和稳压管) 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
检测项:老炼(晶体管) 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
检测项:温度循环 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出低电平电流IOL 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:电源电流IDD 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:开帽内部设计目检 检测样品:微电子器件 标准:《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005
检测项:X射线照相检验 检测样品:微电子器件 标准:《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005
检测项:稳定性烘焙 检测样品:微电子器件 标准:《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:电容量 检测样品:微电子器件 标准:GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》
检测项:损耗(Q) 检测样品:微电子器件 标准:GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》
检测项:气密性 检测样品:微电子器件 标准:GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》
检测项:外部目检 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:探针测试 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
检测项:内部目检 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
检测项:附加电气试验 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:方法301 介质耐电压试验 检测样品:微电子器件试验 标准:GJB 548B-2005 微电子器件试验
检测项:方法302 绝缘电阻测试 检测样品:微电子器件试验 标准:GJB 548B-2005 微电子器件试验
检测项:稳定性烘焙 检测样品:微电子器件试验 标准:GJB 548B-2005 微电子器件试验
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:最高额定工作 温度下的静态试验 检测样品:半导体 集成电路 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006
检测项:25℃下的 动态试验 检测样品:半导体 集成电路 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006
检测项:最高额定工作 温度下的动态试验 检测样品:半导体 集成电路 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:浸渍 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010
检测项:耐湿 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010
检测项:寿命 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:湿度 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:微电子器件试验方法 方法1008.1稳定性烘焙GJB548B-2005
检测项:冲击 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:微电子器件试验方法 方法1004.1耐湿GJB548B-2005
检测项:振动试验 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:微电子器件试验方法 方法2002.1机械冲击 GJB548B-2005