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检测项：纹波抑制比 检测样品：DC/DC电源装置 标准：军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB152A－1997
检测项：输出电压稳定性 检测样品：DC/DC电源装置 标准：军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB152A－1997
检测项：瞬时过载特性 检测样品：DC/DC电源装置 标准：军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB152A－1997
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：电磁兼容 检测样品：军用设备和分系统 标准：军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求 GJB 151A-1997
检测项：信号线耦合传导抗扰度 检测样品：道路车辆-部件 标准：电源线以外线束通过电导、电容耦合和电感耦合引起的电干扰 SAE J1113-12-2006
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项：晶间腐蚀 检测样品：金属与合金 标准：《奥氏体不锈钢晶间腐蚀敏感度试验方法》ASTM A262-2010
检测项：氢致开裂 检测样品：金属与合金 标准：《锻制高镍铬轴承合金晶间腐蚀敏感度试验方法》ASTM G 28-02（2008）
机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项：负载稳定度 检测样品：开关电源 标准：《微小型计算机系统设备用开关电源通用技术条件》 GB/T14714-1993
检测项：负载稳定度 检测样品：开关电源 标准：微小型计算机系统设备用开关电源通用规范 GB/T14714-2008
检测项：冲击电流 检测样品：开关电源 标准：微小型计算机系统设备用开关电源通用规范 GB/T14714-2008
检测项：静电放电敏感度 检测样品：半导体集成电路外壳 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1003
检测项：静电放电敏感度 检测样品：半导体集成电路外壳 标准：电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996 方法302
检测项：静电放电敏感度 检测样品：半导体集成电路外壳 标准：电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009方法302
机构所在地：安徽省蚌埠市 更多相关信息>>
检测项：平均晶粒度 检测样品：铁磁材料 标准：《检测奥氏体不锈钢晶间腐蚀 敏感度的标准方法》ASTM A262-2010
检测项：平均晶粒度 检测样品：铁磁材料 标准：《检测奥氏体不锈钢晶间腐蚀 敏感度的标准方法》 ASTM A262-2010
机构所在地：浙江省温州市 更多相关信息>>
检测项：硫酸铜试验 检测样品：金属及合金 标准：检测奥氏体不锈钢晶间腐蚀敏感度的标准方法 ASTM A262-13
检测项：锑、砷、铍、镉、铬、铜、铅、镍、硒、银、铊、锌 检测样品：空气和废气 标准：电感耦合等离子体质谱法 USEPA 6020A-2007
检测项：元素 检测样品：石油产品 标准：残渣燃油中铝、硅、钒、镍、铁、钠、钙、锌、磷的测定－电感耦合等离子体发射光谱法 IP 501-05
机构所在地：天津市 更多相关信息>>
检测项：α-相面积含量 检测样品：钢铁及合金 标准：检测奥氏体不锈钢晶间腐蚀敏感度的标准实施规范 ASTM A 262-2010
检测项：铬 检测样品：钢铁及合金 标准：碳素钢和中低合金钢—硅、锰、磷、铬、镍、钛、钼、铜、铝、钒、钴含量的测定—电感耦合等离子体发射光谱法（常规法） CSM 07 02 94 21-2010
检测项：钛 检测样品：钢铁及合金 标准：碳素钢和中低合金钢—硅、锰、磷、铬、镍、钛、钼、铜、铝、钒、钴含量的测定—电感耦合等离子体发射光谱法（常规法） CSM 07 02 94 21-2010
机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项：氢致 开裂 检测样品：埋地 钢质管道 标准：奥氏体不锈钢晶间腐蚀 敏感度的检测方法 ASTM A262-13
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：α-相 检测样品：金属与 金属制品 标准：ASTM A262-10《检测奥氏体不锈钢晶间腐蚀敏感度的标准方法》
检测项：Al、Cr、Co、Cu、 P、Mn、Mo、Ni、Si、Sn、Ti、V 检测样品：金属物理性能 标准：SN/T0750-1999 《进出口碳钢、低合金钢中铝、砷、铬、钴、铜、磷、锰、钼、镍、硅、锡、钛、钒含量的测定—电感耦合等离子体原子发射（ICP-AES）法》
检测项：P、Ag、Bi、Sb、As、Fe、Ni、Pb、Sn、Zn、Mn、Cd、Se、Te、Al、Si、Co、Ti、Mg、Be、Zr、Cr 检测样品：金属物理性能 标准：GB/T5121.27-2008 《铜及铜合金化学分析方法第27部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法》
机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>
