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检测项:反向电流 检测样品:光电耦合器 标准:GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分 信号(包括开关)和调整二极管 第Ⅳ章第1节1条 第Ⅳ章第1节2条
检测项:反向电流 检测样品:耦合器 标准:GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分 信号(包括开关)和调整二极管 第Ⅳ章第1节1条 第Ⅳ章第1节2条
检测项:集电极-发射极截止电流 检测样品:电阻器 标准:GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 第Ⅳ章3条
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:反向电流 检测样品:电阻器 标准:GB/T5729-2003电子设备用固定电阻器 第一部分:总规范
检测项:反向电流 检测样品:电阻器 标准:GB/T5729-2003《电子设备用固定电阻器 第一部分:总规范》
检测项:发射极-基极截止电流 检测样品:场效应管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
机构所在地:江苏省连云港市 更多相关信息>>
检测项:反向电流IR 检测样品:二极管 标准:半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995
检测项:集电极-基极截止电流ICBO 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管GB/T4587-1994
检测项:集电极-发射极截止电流ICEO 检测样品:三端稳压电源(电压调整器) 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:反向电流 检测样品:发光二极管(LED) 标准:SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》
检测项:反向电压 检测样品:发光二极管(LED) 标准:SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》
检测项:泄漏电流 检测样品:防静电工作区 标准:GJB3007A-2009《防静电工作区技术要求》、SJ/T 10694-2006《电子产品制造与应用系统防静电检测通用规范》
机构所在地:吉林省长春市 更多相关信息>>
检测项:反向电流 检测样品:发光二极管 标准:半导体分立和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003
检测项:反向峰值电流 检测样品:整流二极管 标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T 4023-1997
检测项:截止电流 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:反向漏电流 检测样品:电容 标准:电子设备用固定电容器 第1部分:总规范 GB/T2693-2001
检测项:截止态漏极漏电流 检测样品:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 GB/T14114-1993
检测项:截止态源极漏电流 检测样品:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 GB/T14114-1993
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:IR: 反向电流 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)
检测项:ICBO:集电极与基极间反向漏电流 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)
检测项:ICEO:集电极与发射极间反向漏电流 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:反向峰值电流 检测样品:双极型晶体管 标准:GB/T4587-1994半导体器件分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管
检测项:反向漏过电流 检测样品:开关二极管 标准:GB/T6571-1995第3部分信号(包括开关)和调整二极管
检测项:反向漏过电流 检测样品:稳压二极管 标准:GB/T6571-1995半导体器件分立器件 第3部分信号(包括开关)和调整二极管
检测项:漏极反向电流 检测样品:功率金属氧化物场效应管 标准:半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750E 2006 方法3415.1
检测项:漏极反向电流 检测样品:功率金属氧化物场效应管 标准:半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法3415.1
检测项:反向漏电流 检测样品:二极管 标准:半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法4016.4
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:集电极-基极截止电流 检测样品:低频放大管壳额定的双极型晶体管 标准:低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996
检测项:集电极-发射极极截止电流(VBE=规定的X) 检测样品:低频放大管壳额定的双极型晶体管 标准:低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996
检测项:集电极-发射极极截止电流(VBE=规定的R) 检测样品:低频放大管壳额定的双极型晶体管 标准:低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996
机构所在地:山东省济南市 更多相关信息>>