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检测项:输出短路电流 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-96 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:电源电流 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-96 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:功能测试 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-96 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省连云港市 更多相关信息>>
检测项:线路输出阻抗 检测样品:声频功率放大器 标准:声频功率放大器通用技术条件SJ/T10406-1993
检测项:线路负载阻抗 检测样品:声频功率放大器 标准:声频功率放大器通用技术条件SJ/T10406-1993
检测项:部分参数 检测样品:声频功率放大器 标准:声频功率放大器通用技术条件SJ/T10406-1993
机构所在地:山东省济南市 更多相关信息>>
检测项:部分参数 检测样品:声频功率放大器 标准:声频功率放大器通用技术条件SJ/T 10406-1993
机构所在地:广东省江门市 更多相关信息>>
检测项:释放电压 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
检测项:吸合时间 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
检测项:释放时间 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项:差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压 检测样品:RF器件 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项:差分放大器的输出电压范围(仅直流测试) 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:集电极-基极击穿电压 检测样品:半导体集成运算放大器 标准:SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:输入失调电压 检测样品:半导体集成运算放大器 标准:SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:输出低电平电压 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:高电平输出电流 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:漏极截止电流IDSS 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算(电压) 放大器测试方法的基本原理
检测项:栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算(电压) 放大器测试方法的基本原理
检测项:输入失调电压VIO 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算(电压) 放大器测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:矿用信号转换器、矿用信号中继器 标准:MT/T1006-2006《矿用信号转换器》
检测项:全部项目 检测样品:煤矿信号设备 标准:MT287-1992《煤矿信号设备通用技术条件》
检测项:全部项目 检测样品:煤矿用提升信号装置 标准:MT/T834-1999《煤矿用提升信号装置通用技术条件》
机构所在地:辽宁省抚顺市 更多相关信息>>
检测项:调制(内部和外部)和控制信号 检测样品:脉冲信号 发生器 标准:脉冲信号发生器技术条件 GB 9317-1988
检测项:环境试验 检测样品:扫频信号发生器 标准:扫频信号发生器通用技术条件GB/T 13183-1991 扫频信号发生器测试方法 GB/T 13
检测项:外观与结构要求 检测样品:微波信号 发生器 标准:微波信号发生器技术条件SJ 2524-1984微波信号发生器测试方法SJ 2525-1984
机构所在地:安徽省蚌埠市 更多相关信息>>