输出短路保护检测实验

防龋材料

简介

防龋材料

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防龋材料产品描述：一般采用树脂基材料或含氟材料制成。

防龋材料预期用途：用于预防龋齿，封闭牙齿窝沟点隙，阻断细菌进入，或提高牙齿釉质的耐酸蚀性。

防龋材料品名举例：氟保护剂、氟保护漆、氟化泡沫、氟防龋材料、防龋凝胶、光固化窝沟封闭剂、窝沟封闭剂、牙科树脂基窝沟封闭剂

防龋材料管理类别：Ⅱ

防龋材料相关指导原则：
1、窝沟封闭剂产品注册审查指导原则

防龋材料相关标准：
1、YY/T 0632-2008 《牙齿漂白材料过氧化物含量的测定方法》
2、YY/T 0623-2008 《牙科材料可溶出氟的测定方法》

防龋材料相关检测项目：
1 . pH值《牙科氟化物防龋材料： YY/T 0823-2020》
2 . 可溶出氟含量《牙科氟化物防龋材料： YY/T 0823-2020》《牙科材料可溶出氟的测定方法： YY/T 0623-2008》
3 . 总氟含量《牙科氟化物防龋材料： YY/T 0823-2020》
4 . 重金属总含量《牙科氟化物防龋材料： YY/T 0823-2020》
5 . 砷含量《牙科氟化物防龋材料： YY/T 0823-2020》
6 . 微生物限度《牙科氟化物防龋材料： YY/T 0823-2020》

收起百科↑ 最近更新：2023年06月12日

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检测项：输出短路电流检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3005.1

检测项：输出短路电流检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3011.1

检测项：输出短路电流检测样品：电子元器件标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.16条

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检测项：输出短路电流Ios 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：半导体集成电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

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检测项：输出短路电流检测样品：CMOS集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

检测项：输出短路电流检测样品：RF器件标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

检测项：（运算放大器）短路输出电流检测样品：CMOS集成电路标准：半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：输出短路电流检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：输出短路电流检测样品：运算放大器标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：小信号短路正向跨导检测样品：场效应晶体管标准：GB/T4586-1994半导体分立器件分立器件第8部分场效应晶体管

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检测项：输出短路电流检测样品：CMOS集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输出短路电流检测样品：运算(电压)放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

检测项：驻波比检测样品：失配器/短路器/开路器标准：微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996

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检测项：输出短路电流检测样品：电子式绝缘电阻表标准：《电阻测量装置通用技术条件第1部分：电子式绝缘电阻表》 DL/T845.1-2004

检测项：耐短路、开路检测样品：电子式绝缘电阻表标准：《电阻测量装置通用技术条件第1部分：电子式绝缘电阻表》 DL/T845.1-2004

检测项：短路承受能力试验（PT）检测样品：组合互感器标准：《电流互感器》 GB1208-2006 《电力用电流互感器订货技术条件》 DL/T725-2000 《电磁式电压互感器》 GB1207-2006 《电力用电压互感器订货技术条件》 DL/T726-2000 《组合互感器》GB1

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检测项：输出短路电流检测样品：数字集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

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检测项：输出低电平电压检测样品：数字集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

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检测项：输出短路电流检测样品：模拟集成电路标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

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检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：DC/DC模块标准：SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

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检测项：输出短路电流检测样品：电子式绝缘电阻表标准：电阻测量装置通用技术条件第1部分：电子式绝缘电阻表 DL/T 845.1-2004

检测项：接口短路试验检测样品：计量现场手持设备标准：《计量现场手持设备技术规范》Q/GDW 11017-2013

检测项：耐短路、开路检测样品：电子式绝缘电阻表标准：电阻测量装置通用技术条件第1部分：电子式绝缘电阻表 DL/T 845.1-2004

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