轮廓效应/喇叭口检测实验

放射治疗辅助软件

简介

放射治疗辅助软件

简介

放射治疗记录与验证系统软件产品描述：通常由软件安装光盘（或者从网络下载安装程序）组成。提供、定义或者显示治疗机设置数据；由人工输入数据或直接从其他设备导入数据；记录整个治疗阶段的数据。

放射治疗记录与验证系统软件预期用途：用于在计划的放射治疗开始之前和每个治疗阶段开始之前，比较放射治疗机当前参数和预置参数，并记录实际治疗阶段的数据。

放射治疗记录与验证系统软件品名举例：放射治疗记录与验证系统软件

放射治疗记录与验证系统软件管理类别：Ⅲ

放射治疗轮廓勾画软件产品描述：通常由软件安装光盘（或者从网络下载安装程序）组成。放射治疗前利用获得的影像信息，以及分析处理结果，确定目标靶点坐标或者位置。

放射治疗轮廓勾画软件预期用途：用于辅助完成放射治疗。

放射治疗轮廓勾画软件品名举例：放射治疗轮廓勾画软件

放射治疗轮廓勾画软件管理类别：Ⅲ

放射治疗模拟定位软件产品描述：暂无内容

放射治疗模拟定位软件预期用途：暂无内容

放射治疗模拟定位软件品名举例：放射治疗模拟定位软件

放射治疗模拟定位软件管理类别：Ⅲ

放射治疗辅助软件相关指导原则：
1、医疗器械软件注册技术审查指导原则

放射治疗辅助软件相关标准：
1、YY/T 0895-2013 放射治疗计划系统的调试典型外照射治疗技术的测试
2、YY/T 0889-2013 调强放射治疗计划系统性能和试验方法
3、YY/T 0798-2010 放射治疗计划系统质量保证指南

收起百科↑ 最近更新：2023年08月04日

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：密封性检查检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：外部目检检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：栅源极截止（漏泄）电流IGSS 检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

机构所在地：湖北省孝感市更多相关信息>>

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深圳市疾病预防控制中心

检测项：农业转基因生物非期望效应检验和等级评价检测样品：洁净室标准：农业转基因生物食用安全性检验第5部分非期望效应检验（DB440300/T32.5-2007）

检测项：农业转基因生物非期望效应检验和等级评价检测样品：转基因生物检测标准：农业转基因生物食用安全性检验第5部分非期望效应检验（DB440300/T32.5-2007）

检测项：农业转基因生物非期望效应检验和等级评价检测样品：洁净室标准：农业转基因生物食用安全性要求和评价（SZJG 23-2006）

机构所在地：广东省深圳市更多相关信息>>

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中达电子（江苏）有限公司分析实验室

检测项：VCEsat: 集电极与发射极间的饱和压降检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件和集成电路第8部分:场效应晶体管IEC 60747-8(第三版 2010-12)

检测项：hFE:共发射接法时静态电流放大系数检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件和集成电路第8部分:场效应晶体管IEC 60747-8(第三版 2010-12)

检测项：V(BR)DS*:崩潰電壓检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件和集成电路第8部分:场效应晶体管IEC 60747-8(第三版 2010-12)

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中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：集电极—基极击穿电压检测样品：场效应管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：发射极—基极击穿电压检测样品：场效应管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：集电极—发射极维持电压检测样品：场效应管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：放大倍数（hFEL）检测样品：场效应管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

检测项：集电极-基极击穿电压（V(BR)CBO）检测样品：场效应管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

检测项：发射极-基极击穿电压（V(BR)EBO）检测样品：场效应管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：漏极电流检测样品：场效应晶体管标准：GB/T4586-1994半导体分立器件分立器件第8部分场效应晶体管

检测项：漏极截止电流检测样品：场效应晶体管标准：GB/T4586-1994半导体分立器件分立器件第8部分场效应晶体管

检测项：栅-源截止电压检测样品：场效应晶体管标准：GB/T4586-1994半导体分立器件分立器件第8部分场效应晶体管

机构所在地：江苏省南京市更多相关信息>>

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西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：栅-源阈值电压检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-1994

机构所在地：重庆市更多相关信息>>

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马尔精密量仪（苏州）有限公司校准实验室

检测项：表面粗糙度检测样品：机械零件标准：GB/T 1031-2009产品几何技术规范(GPS) 表面结构轮廓法表面粗糙度参数及其数值; GB/T 3505-2009产品几何技术规范(GPS) 表面结构轮廓法术语、定义及表面结构参数

机构所在地：江苏省苏州市更多相关信息>>

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中国航空工业标准件制造有限责任公司检测中心

检测项：圆度检测样品：机械零件标准：产品几何量技术规范(GPS)表面结构轮廓法评定表面结构的规则和方法 GB/T10610-2009 产品几何技术规范(GPS)表面结构轮廓法表面粗糙度参数及其数值 GB/T1031

检测项：平行度检测样品：机械零件标准：产品几何量技术规范(GPS)表面结构轮廓法评定表面结构的规则和方法 GB/T10610-2009 产品几何技术规范(GPS)表面结构轮廓法表面粗糙度参数及其数值 GB/T1031

检测项：同轴度检测样品：机械零件标准：产品几何量技术规范(GPS)表面结构轮廓法评定表面结构的规则和方法 GB/T10610-2009 产品几何技术规范(GPS)表面结构轮廓法表面粗糙度参数及其数值 GB/T1031

机构所在地：贵州省贵阳市更多相关信息>>

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上海市轴承技术研究所检测实验室

检测项：表面粗糙度检测样品：金属材料标准：产品几何技术规范（GPS）- 表面结构-轮廓法表面粗糙度参数及其数值GB/T 1031-2009 产品几何技术规范表面结构轮廓法评定表面结构的规则和方法 GB/T 10610-2009

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放射治疗辅助软件

简介

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