| 功率型线绕固定电阻器0105 |
制样镜检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.4 |
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| 电阻网络0106 |
外部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.2 |
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| 集成电路 |
混合电路试验方法 |
基本环境试验规程 第2部分:各种试验 试验B:干热(高温) SJ/Z 9001.3-1987 表4 C组 2小组 |
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| 集成电路 |
高温贮存 |
《半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分:高温贮存》 IEC 60749-6：2002 |
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| 集成电路 |
标准耐久性 |
《半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分:标准耐久性》 IEC 60749-9：2002 |
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| 集成电路 |
稳态湿热 |
基本环境试验规程 第2部分:各种试验 试验Ca:稳态湿热 SJ/Z 9001.5-1987 |
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| 集成电路 |
循环湿热(12+12h循环） |
基本环境试验规程 第2部分:各种试验 试验Db:循环湿热(12+12h循环) SJ/Z 9001.6-1987 |
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| 集成电路 |
强加速稳态湿热试验 |
《半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验HAST)》 GB/T 4937.4-2012,IEC 60749-4：2002 |
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| 集成电路 |
稳态温湿度偏置寿命验 |
《半导体器件 机械和气候试验方法 第5部分:稳态温湿度偏置寿命验》 IEC 60749-5：2003 |
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| 集成电路 |
冲击 |
基本环境试验规程 第2部分:各种试验 试验Ea:冲击 SJ/Z 9001.23-1987 |
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