| 金属箔固定电阻器0102 |
外部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.2 |
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| 金属箔固定电阻器0102 |
引出端强度 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3 |
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| 金属箔固定电阻器0102 |
内部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.4 |
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| 金属箔固定电阻器0102 |
制样镜检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.5 |
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| 片式固定电阻器0103 |
外部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.2 |
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| 片式固定电阻器0103 |
制样镜检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3 |
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| 精密线绕固定电阻器0104 |
外部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.2 |
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| 精密线绕固定电阻器0104 |
制样镜检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3 |
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| 功率型线绕固定电阻器0105 |
外部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.2 |
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| 功率型线绕固定电阻器0105 |
X射线检查 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3 |
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