| 集成电路 |
密封 |
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1014 |
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| 集成电路 |
老练试验 |
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1015 |
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| 集成电路 |
寿命/可靠性试验 |
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1016 |
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| 集成电路 |
内部水汽含量 |
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1008 |
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| 集成电路 |
MOS场效应晶体管阈值电压 |
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1022 |
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| 集成电路 |
密封前老练 |
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1030 |
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| 集成电路 |
写/擦疲劳寿命 |
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1033 |
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| 集成电路 |
恒定加速度 |
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2001 |
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| 集成电路 |
可焊性 |
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2003 |
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| 集成电路 |
引线牢固性 |
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2004 |
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